浙大微电子26第八讲集成电路可测性原理与设计浙大微电子韩雁浙大微电子226IC测试概念在芯片设计正确的前提下在制造过程中引入的缺陷(故障)造成的电路失效需要用测试的方法将其检测出来对IC设计用仿真手段验证设计正确性对IC制造用测试手段报告生产良率故障的存在影响电路功能的正确性故障的定位若大量电路由于相同原因失效要找出问题所在2022426浙大微电子326电路测试与电路仿真的不同电路仿真时间充裕软件