浙大微电子26第八讲集成电路可测性原理与设计浙大微电子韩雁浙大微电子226IC测试概念在芯片设计正确的前提下在制造过程中引入的缺陷(故障)造成的电路失效需要用测试的方法将其检测出来对IC设计用仿真手段验证设计正确性对IC制造用测试手段报告生产良率故障的存在影响电路功能的正确性故障的定位若大量电路由于相同原因失效要找出问题所在2022426浙大微电子326电路测试与电路仿真的不同电路仿真时间充裕软件

测试部新进员工培训材料1﹑测试部测试机和分选机分为TO-92(简称92)TO-92S(简称92S)TO-94(简称94)TO-126(简称126)IC机所以所测试的产品分为TO-92TO-92STO-94TO-126IC五种产品类型TO-94机有1235号机TO-92机有6789号机TO-92S机有101112号机TO-126机有151617号机IC机有192021222325号机2待测试的