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实验仪器 其中l为磁路的平均长度N为磁化线圈的匝数n=NL为单位磁路长度上线圈的匝数H的单位为Am由磁化线圈通过的电流I和单位磁路长度上线圈的匝数n可计算磁场强度H用特斯拉计测量气隙中均匀磁场区的磁感应强度可得B逐点测出HB的值即可绘出B-H曲线 (2) 样品退磁毫特计调零在正式测量磁化曲线之前务必对样品进行退磁处理本实验采用直流退磁法
通过霍耳效应测量磁场 Pb06210113 王心实验目的:1、了解霍尔效应原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。 2、学习用“对称测量法”消除付效应影响。 3、根据霍尔电压判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度。实验仪器:QS-H 霍尔效应组合仪,小磁针,测试仪。 霍尔效应组合仪包括电磁铁,霍尔样品和样品架,换向开关和接线柱,如下图所示。 ?测试仪由励磁恒流源 I M ,样品工作恒
霍耳效应磁学量的测量一般比较困难可以通过一定的物理规律把磁学量转化为易于测量的电学量这种方法是物理实验的常用方法本实验主要介绍利用霍耳效应法测量磁感应强度具有霍耳效应功能的元件称为霍耳元件它在测量中具有频率响应宽(从直流到微波)可靠小型测量时无接触使用寿命长和成本低等优点目前在测量技术自动控制计算机和信息技术等方面仍被广泛应用【实验目的】1. 了解霍耳效应的原理及霍耳元件有关参数的含义及作用测绘霍
霍耳式传感器一霍耳效应1879年美物理学家霍尔发现将一载流导体放在磁场中如果磁场方向与电流方向正交则在垂直于电流和磁场的方向的导体两侧产生电势差的现象电势差的大小与电流和磁场强度的乘积成正比而与物体沿磁场方向的厚度成反比其比例系数称霍耳系数它同物体中载流子的符号和浓度有关如下图有一个厚度为d宽为l的导电薄片沿x轴通有电流强度I当在z轴方向加以匀强磁场B时在导体薄片两侧(图中的CDy轴方向)产
通过霍耳效应测量磁场 Pb06210113 王心实验目的:1、了解霍尔效应原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。 2、学习用“对称测量法”消除付效应影响。 3、根据霍尔电压判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度。实验仪器:QS-H 霍尔效应组合仪,小磁针,测试仪。 霍尔效应组合仪包括电磁铁,霍尔样品和样品架,换向开关和接线柱,如下图所示。 ?测试仪由励磁恒流源 I M ,样品工作恒
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级量子反常霍耳效应华东师范大学 钱振华(一)霍耳效应1897年美国科学家霍耳发现当电流通过在磁场中的导体板时如图导体板两侧ab上产生电势差UH这就是所谓的霍耳效应该电势差叫做霍耳电压利用洛仑兹力与电场力平衡 quB=qUHl而 I
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级 半导体薄片置于磁感应强度为B 的磁场中磁场方向垂直于薄片当有电流I 流过薄片时在垂直于电流和磁场的方向上将产生电动势UH这种现象称为霍尔效应 磁感应强度B为零时的情况cdab第九章 霍耳传感器测量原理:利用半导体材料的霍耳效应进行测量第一节 霍耳传感器的工作原理一霍尔效应磁感应强度B 较大时的情况
07_04 电导和霍耳效应 1 半导体电导率 一般电场下 —— 半导体的导电服从欧姆定律可以同时有两种载流子 —— 电子和空穴—— 空穴和电子在外场下获得的平均漂移速度电流密度平均漂移速度和外场的关系—— 空穴和电子的迁移率欧姆定律电导率 电流密度载流子漂移运动 —— 电场加速和半导体中散射的结果散射源自晶格振动和杂质温度较高时 —— 晶格振动对载流子的散射是主要的温度较低时 —— 杂质的
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