34 干涉条纹的对比度 0K1,称为“部分相干”影响干涉条纹可见度的主要因素是光源的大小、光源的非单色性和两相干光束的振幅比。实际光源不是理想的点光源,它总包含着众多不相干的点源。每个点光源,在干涉装置中都形成一对相干点光源。各对相干点光源在干涉场产生各自的一组条纹。各点光源有不同位置,各组条纹相互间产生一定的位移。暗条纹的强度不再为零,条纹对比度降低。当光源大到一定程度时,对比度甚至可以下降到零
34 干涉条纹的对比度 0K1,称为“部分相干”影响干涉条纹可见度的主要因素是光源的大小、光源的非单色性和两相干光束的振幅比。实际光源不是理想的点光源,它总包含着众多不相干的点源。每个点光源,在干涉装置中都形成一对相干点光源。各对相干点光源在干涉场产生各自的一组条纹。各点光源有不同位置,各组条纹相互间产生一定的位移。暗条纹的强度不再为零,条纹对比度降低。当光源大到一定程度时,对比度甚至可以下降到零
第34节 干涉条纹的可见度 the visibility (contrast) of interference fringes干涉场某点附近干涉条纹的可见度(Visibility, Contrast)定义:1、若 I1= I2,IM= 4A12 = 4I1(I2),Im= 0,则,K= 1;2、若 I1﹥﹥I2,IM≈Im,则,K= 0 。由此可知,相干叠加的两光波光强不能相差太大。当K≥ 0·7
可见度(对比度、衬比度)的定义:§17-7干涉条纹的可见度1干涉条纹的可见度I1=I2时,条纹的可见度最大,V=1;I1与I2相差越大,可见度越低。干涉条纹的可见度 干涉条纹的可见度 2 光的非单色性对条纹可见度的影响普通单色光源发出的光,是有一中心波长?及谱线宽度??的准单色光,其最终干涉条纹是各种波长成分的干涉条纹的非相干叠加。设每一波长成分干涉条纹的可见度都为1,最终干涉条纹的强度分布可示意
单击此处编辑母版标题样式n2en1A1. 等倾干涉条纹BDri?2rC§17-4 薄膜干涉—等倾条纹 光波经薄膜两表面反射后相互叠加所形成的干涉现象称为薄膜干涉 薄膜干涉可分成等倾干涉和等厚干涉两类1.1 点光源照明时的干涉条纹分析 rL fPo rk环B en?n?n > n?iA CD21Siii ·····等倾干涉条纹n?n?n > n?光束12的光程差为: rB ei
由于ab两束光是同一束入射光分为两部分产生的因而是相干光相遇时可产生干涉条纹θn1db
A1 等倾干涉条纹Bri2rC§17-4 薄膜干涉等倾条纹 光波经薄膜两表面反射后相互叠加所形成的干涉现象,称为薄膜干涉。薄膜干涉可分成等倾干涉和等厚干涉两类。光束1、2的光程差为: rBiA CD21Si ·····等倾干涉条纹考虑折射定律光束1、2的光程差为:或 rBiA CD21Si ·····得等倾干涉条纹 1) 对于透射光:2) 垂直入射时:3) 讨 论:等倾干涉条纹明纹暗纹倾角i相同的
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级云纹干涉测试技术一云纹干涉法的定义及发展:-八十年代初(自1979 Post D 最早提出)兴起的一种具有非接触测量可进行全场实时进行位移分析的高灵敏度大量程的光学测量方法-创始人Post D 开始以传统的几何云纹为基础去解释云纹法并没能真正揭示其物理本质并阻碍了其进一步发展-由于该方法是以被测试件表面高灵敏度云纹光栅作为变形
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