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1.双嵌入式铜互连工艺 随着芯片集成度的不断提高铜已经取代铝成为超大规模集成电路制造中的主流互连技术作为铝的替代物铜导线可以降低互连阻抗降低功耗和成本提高芯片的集成度器件密度和时钟频率 由于对铜的刻蚀非常困难因此铜互连采用双嵌入式工艺又称双大马士革工艺(Dual Damascene)1)首先沉积一层薄的氮化硅(Si3N4)作为扩散阻挡层和刻蚀终止层2)接着在上面沉积一定厚度的氧化硅(S
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第一章 集成电路制造工艺流程4代工单位根据设计单位提供的GDS-Ⅱ格式的版图数据首先制作掩模(Mask)将版图数据定义的图形固化到铬板等材料的一套掩模上一张掩模一方面对应于版图设计中的一层的图形另一方面对应于芯片制作中的一道或多道工艺在一张张掩模的参与下工艺工程师完成芯片的流水式加工将版图数据定义的图形最终有序的固化到芯片上这一过程通常简称为流片9多项目晶圆MPW(multi-project w
超大规模集成电路课程论文 题目:集成电路设计生产及工艺流程 院 系: 物理与电子工程学院 专 业: 电子信息科学与技术 年 级: 三年级 学 号: 2009111127 姓 名: 汪星
黄君凯 教授83电介质淀积 电介质CVD淀积工艺和装置(1)常压化学气相淀积:APCVD装置(热能) :与热氧化炉相同(2)低压化学气相淀积:LPCVD 装置(热能):图8-10 LPCVD反应器(3)等离子增强化学气相淀积:PECVD 装置(热能和等离子能):图8-11PECVD反应器黄君凯 教授黄君凯 教授831二氧化硅( CVD) 不掺杂二氧化硅:绝缘膜、掩模膜、加厚场氧化膜 掺杂二氧化硅:
第 9 章工艺集成IC制造工艺流程 原始材料:抛光晶片 薄膜成型:外延膜、电介质膜、多晶硅膜、金属膜,氧化膜 掺杂与光刻:扩散、注入、各种光刻 刻蚀:湿法与干法 IC芯片:图形转换到晶片IC芯片与集成度 小规模集成电路SSI:元件数个 中规模集成电路MSI:元件数个黄君凯 教授图9-1IC制造流程 大规模集成电路LSI:元件数 个 超大规模集成电路VLSI:元件数个 特大规模集成电路ULSI:元件
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路的工艺集成双极型集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学§10.1 集成电路中的隔离
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样panyLOGO单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式天津工业大学Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路
硅集成电路基本工艺流程简介近年来日新月异的硅集成电路工艺技术迅猛发展一些新技术新工艺也在不断地产生然而无论怎样硅集成电路制造的基本工艺还是不变的以下是关于这些基本工艺的简单介绍IC制造工艺的基本原理和过程IC基本制造工艺包括:基片外延生长掩模制造曝光氧化刻蚀扩散离子注入及金属层形成一硅片制备(切磨抛)1晶体的生长(单晶硅材料的制备):1) 粗硅制备: SiO22H2=Si2H2O 9
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