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第八章 X射线谱仪和电子探针Electron Probe Microanalyser (EPMA)在SEM里我们用特征X射线谱来分析材料微区的化学成分这种微区分析可小至几?m3每一种元素都有它自己的特征X射线根据特征X射线的波长和强度就能得出定性与定量的分析结果这是用X射线做成分分析的理论依据X射线谱的测量与分析有两种方法:能谱仪(EDS)波谱仪(WDS) 能谱:能量色散谱 (EDS)1原理1能量
Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
电子顺磁共振仪与X射线光电子能谱仪等仪器采购项目(子包1重招)机电产品国际招标招标文件(第二册)招标编号:1371-1641GDGH106401 广东国和采购咨询有限 2016年 月 日 : 目 录第一册(另行装订)第一章 投标人须知…………详见机电产品国际招标标准招标文件(试行) (第一册)第二章 合同通用条款…………详见机电产品国际招标标准招标文件(试行)(第一册)第三章 合
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