单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.9 金属化与多层互连IC中金属的作用及分类1铝在集成电路技术中的应用23大规模集成电路与多层互连工艺45铜及其他金属在IC中的应用多晶硅及硅化物在IC中的应用天津工业大学IC中金属的分类IC中的金属MOSFET栅电极材料(重掺杂多晶硅)互连材料(常用金属及金属合金)接触材料(金属硅化物)金属化:金属及金
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路的工艺集成双极型集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学§10.1 集成电路中的隔离
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样panyLOGO单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式天津工业大学Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.8 光刻与刻蚀工艺光刻的重要性及要求1光刻工艺流程23湿法刻蚀与干法刻蚀技术45曝光光源曝光方式以及掩膜版光刻工艺的分辨率及光刻胶天津工业大学光刻与刻蚀的定义光刻工艺的重要性:IC设计流程图光刻图案用来定义IC中各种不同的区域如:离子注入区接触窗有源区栅极压焊点引线孔等主流微电子制造过程中光刻是最复杂昂贵
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.3 扩散(Diffusion)杂质掺杂Impurity doping扩散(Diffusion)通过高温扩散的方式杂质原子通过气相源或掺杂过的氧化物扩散或淀积到硅片表面并进一步扩散到体内形成掺杂离子注入(Ion implantation)杂质原子以离子束的形式注入到硅片内形成掺杂将可控制数量的杂质掺入到半导
上节课内容小结与离子注入一样形成浅结却无注入损伤且无需退火 因注入离子与靶原子的质量一 般为同一数量级每次碰撞之后注入离子都可能发生大角度的散射并失去一定的能量 靶原子核也因碰撞而获得能量如果获得的能量大于原子束缚能就会离开原来所在晶格进入间隙并留下一个空位形成缺陷核阻止本领与离子能量的关系一级近似:核阻止本领S0n和入射离子能量E无关电子阻止本领和注入离子的速度(能量
1.双嵌入式铜互连工艺 随着芯片集成度的不断提高铜已经取代铝成为超大规模集成电路制造中的主流互连技术作为铝的替代物铜导线可以降低互连阻抗降低功耗和成本提高芯片的集成度器件密度和时钟频率 由于对铜的刻蚀非常困难因此铜互连采用双嵌入式工艺又称双大马士革工艺(Dual Damascene)1)首先沉积一层薄的氮化硅(Si3N4)作为扩散阻挡层和刻蚀终止层2)接着在上面沉积一定厚度的氧化硅(S
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多层板孔金属化工艺探讨本文主要论述了多层板的去钻污和沉铜工艺剖析了各工步的原理及作用一前言 众所周知孔金属化是多层板生产过程中最关键的环节她关系到多层板内在质量的好坏孔金属化过程又分为去钻污和化学沉铜两个过程化学沉铜是对内外层电路互连的过程去钻污的作用是去除高速钻孔过程中因高温而产生的环氧树脂钻污(特别在铜环上的钻污)保证化学沉铜后电路连接的高度可靠性二孔金属化 多层板工艺分凹蚀工艺和非凹蚀工
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