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无损检测技术的产生和发展:借助于现代科学技术发展的基础产生和发展射线照相法(RT)——X射线的发现(1895年伦琴射线)超声波检测(UT)——二次大战中迅速发展的声纳技术和雷达技术的基础上开发磁粉检测(MT)——电磁学基础渗透检测(PT)——物理化学的进展涡流检测(ET)——电磁学(电磁感应)…………现代电子技术和计算机技术的发展和其它学科介入无损检测领域使无损检测技术如虎添翼得到质的飞跃 2.
pare means: t-test张菡2011400403pare means(均值比较)You need topare two or more means (average) in your study the statistical procedures in SPSS for this purpose are called pare means” t-test
A . B. C. D.
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