实验名称 寄存器功能测试及应用实验目的1、掌握集成D触发器的逻辑功能及触发方式。2、掌握集成触发器的使用方法。3、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。4、熟悉74HC74D触发器的结构和工作原理。5、了解D触发器的移位功能二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC04六反相器 1片3、74HC194四向双向通用移位寄存器 2片实验原理触发器具有两个稳定状态,用以表示逻辑状态“1”和“0”
实验名称 寄存器功能测试及应用一、实验目的1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC74双D触发器 2片3、74HC04六反相器1片。4、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。三、实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既
4 译码器及其应用一.实验目的 1.掌握译码器的测试方法。 2.了解中规模集成译码器的功能,管脚分布,掌握其逻辑功能。 3.掌握用译码器构成组合电路的方法。 4.学习译码器的扩展。二.实验设备及器件 1.数字逻辑电路实验板 1块 2.74HC138 3-8线译码器 1片 3.导线若干,插座一片,电源一个实验原理 1.中规模集成译码器74HC13874HC138是集成3线-8线译码器,在数字系统中
实验七计数器逻辑功能测试及应用一、实验目的1、熟悉中规模集成电路计数器74HC160的逻辑功能,使用方法及应用。2、掌握构成任意进制计数器的方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC160同步加法二进制计数器 1片。3、74HC20二输入四与非门 1片。三、实验原理计数器是一个用以实现计数功能的时序部件,它不仅可用来计脉冲数,还常用作数字系统的定时、分频和执行数字运算以及其它特
加法器一实验目的1 掌握并学会于运用74HC86芯片以及它的引脚。2掌握半加器和全加器的工作原理及逻辑功能。3 掌握异或门的使用。二实验原理由异或门和与非门组成全加法电路。考虑低位进位的加法称为全加。实现全加的电路,为全加器。三实验内容 本实验用74HC86和74HC00组成电路74HC00(四二输入与非门) 74HC86(四2输入端异或门)用门电路实现全加器。参照图搭接电路,并测试其功能记录
实验五 自由实验实验目的1前几次实验课上未完成的实验再做一下二实验器材1。74HC153芯片一块274hc283芯片一块1、双四选一数据选择器 74HC153 所谓双 4选 1数据选择器就是在一块集成芯片上有两个 4选 1数据选择器。引脚排列如图 4-1。S1、 S2为两个独立的使能端;A 1 、A 0为公用的地址输入端;1D 0 ~1D 3和 2D 0 ~2D 3分别为两个 4选 1数据选择
实验八 寄存器功能测试及应用一、实验目的1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。三、实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号
实验五 加法器一、实验目的1、掌握半加器、全加器的工作原理及逻辑功能。2、掌握集成加法器的应用。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板 1块2、74HC283 1片3、74HC04 1片4、74HC00 1片5、74HC86 1片三、实验原理1、半加器不考虑低位进位,只本位相加,称半加。实现半加的电路,为半加器。 Si=AiBi+AiBi2、全加器考虑低位进位的加法称为全加。实现全加的电路,为
实验五加法器一、实验目的1、掌握半加器、全加器的工作原理及逻辑功能。2、掌握集成加法器的应用。 二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板 1块2、74HC2831片3、74HC04 1片4、74HC00 1片5、74HC86 1片三、实验原理1、半加器不考虑低位进位,只本位相加,称半加。实现半加的电路,为半加器。2、全加器考虑低位进位的加法称为全加。实现全加的电路,为全加器。3、多位加法器(1
实验八寄存器功能测试及应用一、实验目的掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。二、实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板2、74HC194四位双向通用移位寄存器1片3、导线若干三、实验原理 移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位
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