4 实验报告 85:许云鹏 :PB07210215 系别:0723座号:04实验题目: 通过霍尔效应测量磁场实验目的: 通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数 实验内容: 已知参数:b=40mm, d=05mm,=30mm设,其中K=5800GS/A;1保持=0450A不变,测绘曲线(无数据表示过量程)测量当正(反)向时, 正向
V 实验231通过霍尔效应测量磁场:金秀儒:pb05206218实验题目:通过霍尔效应测量磁场实验目的:通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。实验仪器:QS-H霍尔效应组合仪,小磁针,测试仪。实验原理:1通过霍尔效应测量磁场:霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁
实验名称:通过霍尔效应测量磁场实验目的:???????? 了解霍尔效应原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。???????? 学习用“对称测量法”消除付效应影响。???????? 根据霍尔电压判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,实验原理:????????通过霍尔效应测量磁场霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),
实验简介在磁场中的载流导体上出现很想电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H. Hall)在1879年发现的现在称之为霍尔效应随着半导体物理学的迅猛发展霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型载流子浓度载流子迁移率等主要参数若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系还可以求出半导体材料的杂质电离能和材料的禁带宽度
V 实验231通过霍尔效应测量磁场:金秀儒:pb05206218实验题目:通过霍尔效应测量磁场实验目的:通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。实验仪器:QS-H霍尔效应组合仪,小磁针,测试仪。实验原理:1通过霍尔效应测量磁场:霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁
通过霍尔效应测量磁场PB07210135李梦达 评分:86实验目的通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。实验原理(实验原理见预习报告)通过霍尔效应测量磁场霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),当沿y方向的电极A、A’上施加电流I时,薄片内定向移
88分实验题目:通过霍尔效应测量磁场数学系07级 :宗艾俐 日期:08101:PB07025015实验题目:通过霍尔效应测量磁场实验目的:通过霍尔元件测磁场,判断霍尔元件的载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速率,以及了解霍尔效应测试各种负效应及消除方法。实验原理:????????通过霍尔效应测量磁场霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的
88分:蒋瑞瑞:PB072100276系实验报告实验题目:通过霍尔效应测量磁场实验目的:通过霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子的类型,计算载流子的浓度和迁移速率,以及了解霍尔效应测试中的各种负效应以及消除的方法。实验原理:1、通过霍尔效应测量磁场霍尔效应实验装置如图1和图2所示。将以半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),当在沿y轴方向的电极A、A`上施加电流I时,薄片内
实验报告:通过霍尔效应测量磁场张贺 PB07210001一、实验题目:通过霍尔效应测量磁场二、实验目的:通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子的类型,计算载流子的浓度和迁移速率,以及了解霍尔效应测试中的各种负效应及消除的方法。三、实验仪器:霍尔元件、电磁铁、数字电压表或直流电位差计、晶体管毫伏表、交直流毫安表、直流稳压电源、低频信号发生器等。四、实验原理:1 通过霍尔效应测量磁场霍尔效应装
实验报告89:王昕 :PB07210259 系别:0723 座号:6实验题目: 通过霍尔效应测量磁场实验目的: 通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数 实验仪器:霍尔元件、电磁铁、直流稳压电源、毫伏表、毫安表、小磁针实验内容: 已知参数:b=40mm, d=05mm,=30mm设,其中K=4400GS/A;1保持=0450A不
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