IGBT模块的寿命和可靠性研究系统寿命与可靠性关系:可靠性:产品在一定条件下无故障完成规定功能的能力或可能性?IGBT模块的失效模式:功率周次 Power cycling:功率周次用于评估绑定线和Die焊层的机械寿命Power cycling can estimate the bonding wire and die solders lifetime?测试方法: 加载自加热周期≤ 3秒测试ΔTvj
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级IGBT模块项目可行性报告《十二五规划》第1页第一章 项目总论第一节 IGBT模块项目背景一IGBT模块项目基本信息二承办单位概况三本可行性研究报告编制依据四IGBT模块项目提出的理由与过程第二节 IGBT模块项目概况一建设规模与目标二主要建设条件三IG
IGBT模块的基本构造(含基板):IGBT模块的基本构造决定了它的老化失效机理:1. 绑定线连接老化所造成的使用寿命终结2. 焊接层连接老化所造成的使用寿命终结3. 封装端子的老化所造成的使用寿命终结4. 其它因素(如气候变化化学腐蚀)所造成的老化失效绑定线连接老化失效的典型式样:焊接层(DCB-基板)的老化:陶瓷衬底和基板之间焊接层的老化衰变?几种材料的热膨胀系数封装端子的老化损坏:封装框架端子
LED加速寿命和可靠性试验1概述 随着近年来LED光效的不断提升LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视它是LED产品最重要的性能之一寿命是可靠性的终极表现然而LED的理论寿命很长像传统光源采用2h45min开15min关的循环测试到寿命终了对LED产品的测量显然不现实因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验[1]同时也应当测试LED的热学特性环境耐候性电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的
目 录 TOC o 1-3 h z u HYPERLINK l _Toc232267014 摘 要 PAGEREF _Toc232267014 h 1 HYPERLINK l _Toc232267015 ABSTRACT PAGEREF _Toc232267015 h 2 HYPERLINK l _Toc232267016 0引言 PAGEREF _To
浙江大学
三菱IGBT模块的命名CM-----IGBT模块PM-----智能功率模块结线方式:三菱 对应于 infineon D-----2单元(半桥模块) FFGBT-----6单元(三相全桥) FSGDB-----4单元(H桥) F4 H-----1单元
北京工业大学
第 卷第 期
IGBT模块的损耗特性IGBT元件的损耗总和分为:通态损耗与开关损耗开关损耗分别为开通损耗(EON)和关断损耗(EOFF)之和另外内置续流二极管的损耗为导通损耗与关断(反向恢复)损耗(ERR)之和 EONEOFFERR与开关频率的乘积为平均损耗IGBT的损耗:续流二极管的反向恢复损耗:反向恢复损耗 ERR开关特性的测试:PDMB100B12开通损耗EON测量范例:PDMB100B12关断损耗EOF
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