[摘要]: X射线荧光光谱作为常规分析手段始于20世纪50年代经历了50年的发展现已成为物质组成分析的必备方法之一X射线荧光光谱分析仪是一种先进的仪器分析方法近一二十年来随着科学技术和计算机技术的发展这种分析方法得到日益广泛的应用国外先进国家在水泥科研领域和水泥工业生产中已广泛采用X射线荧光光谱仪进行水泥产品及其原材料化学成分分析和生料配料的控制取得了良好的效果新型干法水泥生产具有产量高质
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样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
Title TextBody Level OneBody Level TwoBody Level ThreeBody Level FourBody Level Five唐一鸣新进仪器 X射线荧光分析仪EDX 18008技术测试与评测仪器介绍实验中心2015年最新购置元素分析范围从硫到铀出场配置只能做ROHS检验为物理系开发了X-ray软件亟需解决的问题仪器定标及工作曲线的确定仪器的元素精密程度的标
当样品中元素的原子受到高能X射线照射时即发射出具有一定特征的X射线谱特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关而与激发X射线的能量无关.谱线的强度和元素含量的多少有关所以测定谱线的波长就可知道试样中包含什么元素测定谱线的强度就可知道该元素的含量.定性分析的步骤问题讨论
Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱分析Outline概论基本原理X射线激发X射线探测X射线荧光光谱仪定量分析方法基体校正应用一概论X射线光谱分析的发展历程1895年发现X射线1910年获得特征X射线光谱建立X射线光谱学50年代出现商用X射线发射与荧光光谱仪60年代出现X射线能量色散X射线荧光光谱仪近代出现TXRF PXRF SRXRF PIXE
x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准??前言 本标准第410章为强制性的其余为推荐性的 根据《中华人民共和国职业病防治法》制定本标准原标准GB16355—1996与本标准不一致的以本标准为准 本标准参考美国国家标准局NBS Handbook 111(1977)及SSRCR part H(1982)两份文件编制 本标准由中华人民共和国卫生部提出并归口 本标准起草单
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X 射 线 荧 光 测 厚 仪赵 豪 民一X射线荧光测厚原理1X射线产生 X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线波长短于0.1纳米的叫做硬X射线 产生X射线的最简单方法是用加速 后的电子撞击金属靶撞击过程中电子突然减速其损失的动能(其中的1)会以光子形式放出形成 X光光谱的连续部分称之
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