足够能量的X光特定的结构参数定性相分析简单对比 已知的标准衍射花样很重要11a 1b 1c为衍射花样的前反射区(2?<90o)中选择的三根最强线条对应的面间距1d为最大面间距22a 2b 2c 2d为对应上述各线条以最强线作为100时的相对强度3实验条件: Rad 辐射种类 ?:波长(?) Filter:滤波片 Dia:圆柱相机直径 Cut off:设备所能测得的最大面间距
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级材料现代研究方法主要参考书:高家武 主编高分子材料近代测试技术北京航空航天大学出版社1994.前言材料科学是研究材料性质结构和组成合成和加工材料的性能(或行为)这四个要素以及它们之间相互关系的一门科学采用分析技术和测试手段表征为评定材料质量改进产品性能和研制新材料提供依据性能结构和组成性质合成和加工前言分析测试技术包括化学分析
平时成绩× 30考试成绩× 70平时成绩三种组织分析手段的比较×1000000OM图2 锆英石为主晶相的X射线谱島津EPMA-1600齿轮疲劳失效是由于渗碳处理不均匀根本原因在于硅的偏聚1)系统性依照材料研究方法的基本原理将各种分析手段按照材料研究的本质分类2)本质性提炼出每一类分析方法共同的本质对共同原理进行深入分析和介绍便于学生从本质上理解基本原理3)选择性现代材料分析手段纷繁复杂很难也没有
在X射线发现后几个月医生就用它来为病人服务右图是纪念伦琴发现X射线100周年发行的纪念封X射线管的结构为:旋转阳极X射线强度与波长的关系曲线称之X射线谱在管压很低时小于20kv的曲线是连续变化的故称之连续X射线谱即连续谱当管电压超过某临界值时特征谱才会出现该临界电压称激发电压当管电压增加时连续谱和特征谱强度都增加而特征谱对应的波长保持不变 钼靶X射线管当管电压等于或高于20KV时则除连续X射线谱外
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级内应力的测定晶格畸变导致X射线衍射峰的展宽与位置变化标准样品晶格均匀畸变晶格不均匀畸变根据衍射峰位置变化来表征样品内部应力晶体非常细小 晶体细小 晶体粗大 样品有织构晶体尺寸导致X射线衍射峰的展宽根据X射线衍射峰的展宽获得晶粒尺寸的信息谢乐(Scherrer)公式:β:衍射峰半高宽(FWH
X-Ray测定内应力的特点 l0广义虎克定律Bragg方程 令 称为 的应力常数 则衍射峰位的确定
混合物相的鉴定德拜—谢勒法: 约毫米细圆柱状的粉末集合体图样衍射弧 平面底片照相法(针孔法):分透射和背射两种方法试样为多晶体试样或底片可绕入射线轴转动可得完整的衍射环用于研究晶粒大小择优取向及点阵常数精确测定等布拉格—布伦塔诺衍射仪:平板状样品衍射峰 吸收因数影响小2. 测试条件及样品制备 物
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级材料现代研究方法 朱诚身第六章透射电子显微镜(TEM)与扫描电子显微镜(SEM)6.1 光学和电子光学基础一光学显微镜的聚集与放大作用1.基本概念:⑴光轴:过透镜中心的各条直线叫光轴光线都不发生折射⑵聚焦:平行于主轴的平行光束通过凸透镜后会聚在主轴上的一个点(焦点前焦点后焦点)⑶逆聚焦:前焦点处散射的光过凸透镜后成平行光线⑷
按一下以編輯母片標題樣式按一下以編輯母片第二層第三層第四層第五層 材料研究方法任课教师 李远 绪 论1.1材料研究的意义和内容1.2高聚物学科的最新进展1.3 高聚物的结构研究1.4 高聚物结构研究方法1.5 高聚物分子运动和性能的测定1.6 仪器分析的特点1.7 国内外主要测试标准及组织简介第一章 绪论 1.1材料研究的意义和内容 1.1.1 材料的概念
五热分析热分析法是利用热学原理对物质的物理性能或成分进行分析的总称热分析是在程序控制温度下测量无知的物理性质随温度变化的一类技术TG:热重法 DTA:差热分析 DSC:差示扫描量热法DTA原理:将温差热电偶的一个热端插在被测试样中另一个热端插在待测温度区间内不发生热效应的参比物中试样和参比物同时升温测定升温过程中两者的温度差就构成了DTA的基本原理 优点:量程宽可变温 差热分析仪:加
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