1.双嵌入式铜互连工艺 随着芯片集成度的不断提高铜已经取代铝成为超大规模集成电路制造中的主流互连技术作为铝的替代物铜导线可以降低互连阻抗降低功耗和成本提高芯片的集成度器件密度和时钟频率 由于对铜的刻蚀非常困难因此铜互连采用双嵌入式工艺又称双大马士革工艺(Dual Damascene)1)首先沉积一层薄的氮化硅(Si3N4)作为扩散阻挡层和刻蚀终止层2)接着在上面沉积一定厚度的氧化硅(S
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级2005 FH电镀工艺学 06-1-68电镀工艺学Plating technology Chapter Ⅶ Copper Plating第七章 电镀铜 2005 FH1电镀工艺学 06-1-68概述 铜是玫瑰红色富有延展性的金属 具有良好的导电性能和导热性能基本物理特性: 密度:8.93 gcm3 原子量:6
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级电镀工艺学Plating technology第六章-Ⅱ 电镀铜合金 Chapter Ⅵ-ⅡCopper Alloy Plating概述 电镀铜合金可以提高硬度改变颜色(如作为装饰性的仿古镀层仿金镀层等)以及获得其他特殊的性能电镀铜合金在生产中应用较多的为铜锌合金(黄铜)铜锡合金(青铜)和仿金镀层第六章-Ⅱ 电镀铜
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.9 金属化与多层互连IC中金属的作用及分类1铝在集成电路技术中的应用23大规模集成电路与多层互连工艺45铜及其他金属在IC中的应用多晶硅及硅化物在IC中的应用天津工业大学IC中金属的分类IC中的金属MOSFET栅电极材料(重掺杂多晶硅)互连材料(常用金属及金属合金)接触材料(金属硅化物)金属化:金属及金
黄君凯 教授83电介质淀积 电介质CVD淀积工艺和装置(1)常压化学气相淀积:APCVD装置(热能) :与热氧化炉相同(2)低压化学气相淀积:LPCVD 装置(热能):图8-10 LPCVD反应器(3)等离子增强化学气相淀积:PECVD 装置(热能和等离子能):图8-11PECVD反应器黄君凯 教授黄君凯 教授831二氧化硅( CVD) 不掺杂二氧化硅:绝缘膜、掩模膜、加厚场氧化膜 掺杂二氧化硅:
第 9 章工艺集成IC制造工艺流程 原始材料:抛光晶片 薄膜成型:外延膜、电介质膜、多晶硅膜、金属膜,氧化膜 掺杂与光刻:扩散、注入、各种光刻 刻蚀:湿法与干法 IC芯片:图形转换到晶片IC芯片与集成度 小规模集成电路SSI:元件数个 中规模集成电路MSI:元件数个黄君凯 教授图9-1IC制造流程 大规模集成电路LSI:元件数 个 超大规模集成电路VLSI:元件数个 特大规模集成电路ULSI:元件
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样式Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路的工艺集成双极型集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学§10.1 集成电路中的隔离
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级天津工业大学单击此处编辑母版标题样panyLOGO单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式天津工业大学Chap.10 工艺集成集成电路中的隔离1CMOS集成电路的工艺集成234双极集成电路的工艺集成BiCMOS集成电路的工艺集成天津工业大学工艺集成: ——运用各类工艺形成电路结构的制造过程CMOS集成电路
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