主要内容X射线物相定性分析——定性分析原理粉末衍射卡片的索引表4-1 待测相的衍射数据定性物相鉴定过程中应注意的问题如果标准卡片本身有误差则将给分析者带来更大的困难但这种误差已经逐渐得到纠正新的比较精确的标准卡片正在不断取代一些误差比较大的卡片如果分析者在鉴定物相过程中对卡片有所怀疑时即应制备自己的标准衍射图pany Logo上式中的 Ks a与标准物质的含量无关也与衍射条件(如I0R
单击此处编辑母版标题样式X射线衍射图衍射图的构成: 横坐标:2θ 纵坐标:I衍射曲线:衍射峰 基线 衍射图分析:确定衍射峰位置2θ 确定衍射强度 I§5 X射线衍射分析的应用 X射线物相分析 晶胞参数的确定 晶粒尺寸的计算 结晶度的测量 晶粒取向测定 ……一X射线物相分析 材料或物质的组成包括两部分 一是确定材料的组成元素及其含量
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第一章X射线衍射分析问题材料研究方法 x 射线衍射分析X射线衍射分析能用来做什么研究晶体结构晶体的对称性测定晶胞参数鉴别同质异像的物质C 石墨金刚石TiO2 金红石锐钛矿板钛矿了解材料中的结晶相(定性物
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级 近 代 分 析 方 法 ?? X射线衍射分析? 研究生实验教学讲义? 2005.03.22 ?X射线的发现与发展(1)1895年德国
衍射仪所能进行的其他工作2)结晶物质有自己独特的衍射花样(dθ和 I)3)多种结晶状物质混合或共生它们的衍射花样也只是简单叠加互不干扰相互独立(混合物物相分析) 73) 1969年组建了粉末衍射标准联合委员会(The Jointmittee on Powder Diffraction StandardsJCPDS)专门负责收集校订各种物质的衍射数据并将这些数据统一分类和编号编制成卡片出版这
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线衍射分析原理与应用―X射线衍射仪操作培训―第一讲 X射线衍射基本原理X射线物理学基础X射线衍射的方向X射线衍射的强度X射线物理基础X射线的本质X射线的产生X射线谱X射线的本质1895年德国物理学家―伦琴发现X射线的性质特点肉眼不可见但能使气体电离使照相底片感光能穿过不透明的物体还能使荧光物质发出荧光呈直线传播在电场和磁
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线衍射分析(XRD)X-ray Diffraction Analysis现代仪器分析测试方法0. X射线的历史发展及应用 X射线分析技术的应用范围非常广泛成为一种重要的实验手段和分析方法 随着机械及微电子技术的发展仪器设备的检测精度及可靠性逐渐提高尤其是同步辐射光源的出现以及计算机技术的引入构成了近代X射线分析
第一节 粉末衍射物相分析第二节 粉末衍射指标化第三节 粉末衍射结构分析第四节 粉末衍射的其他应用5(1)制备待分析物质样品(2)用衍射仪法或照相法获得样品衍射花样 (3)利用索引检索PDF卡片(4)核对PDF卡片与物相判定162327显然 无消光 ?立方P立方点阵的衍射指标及其平方和100400211421311222510431sin2?3弱强.通过衍射图谱得到Bragg角?hkl
II用长条形底片卷成圆环状衍射圆锥与底片相交构成一系列对称弧线每对弧线间的距离相当于对应的圆锥顶角4θ对应的弧长德拜法只测量平行于样品表面的晶面试样和测角仪以1:2的角速度转动灵敏弱线可分辨常用于定量相结构分析(1)1a1b1c为三条最强衍射线对应的晶面间距1d为最大面间距(2)2a2b2c2d为上述各衍射线的相对强度最强线为100PDF卡片PDF卡片索引单相物质的衍射强度:5-1当某一相(?)作
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第二章 X射线衍射分析原理2.1 概述2.2 X射线物理学基础2.3 X射线衍射晶体学基础2.4 X射线衍射原理2.1 概述 1895年11月8日德国物理学家伦琴在研究真空管的高压放电时偶然发现镀有氰亚铂酸钡的硬纸板会发出荧光这一现象立即引起的细心的伦琴的注意经仔细分析认为这是真空管中发出的
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