单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级云纹干涉测试技术一云纹干涉法的定义及发展:-八十年代初(自1979 Post D 最早提出)兴起的一种具有非接触测量可进行全场实时进行位移分析的高灵敏度大量程的光学测量方法-创始人Post D 开始以传统的几何云纹为基础去解释云纹法并没能真正揭示其物理本质并阻碍了其进一步发展-由于该方法是以被测试件表面高灵敏度云纹光栅作为变形