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当样品中元素的原子受到高能X射线照射时即发射出具有一定特征的X射线谱特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关而与激发X射线的能量无关.谱线的强度和元素含量的多少有关所以测定谱线的波长就可知道试样中包含什么元素测定谱线的强度就可知道该元素的含量.定性分析的步骤问题讨论
Deformable motion reconstruction for scanned?proton?beam?therapy?using on-line x-ray imaging有关采用在线X-ray图像扫描式质子束照射的变形运动重建效果分析本文章为德国慕尼黑质子治疗中心RPTC专项质子照射法临床效果研究 目的是为了评估有关采用在线X-ray图像扫描式质子束照射的变形运动重建效果Abstra
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱分析Outline概论基本原理X射线激发X射线探测X射线荧光光谱仪定量分析方法基体校正应用一概论X射线光谱分析的发展历程1895年发现X射线1910年获得特征X射线光谱建立X射线光谱学50年代出现商用X射线发射与荧光光谱仪60年代出现X射线能量色散X射线荧光光谱仪近代出现TXRF PXRF SRXRF PIXE
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X 射 线 荧 光 测 厚 仪赵 豪 民一X射线荧光测厚原理1X射线产生 X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线波长短于0.1纳米的叫做硬X射线 产生X射线的最简单方法是用加速 后的电子撞击金属靶撞击过程中电子突然减速其损失的动能(其中的1)会以光子形式放出形成 X光光谱的连续部分称之
样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
中国仪器仪表学会分析仪器分会文件(2010)仪学分字第09号关于举办X射线荧光光谱分析技术及应用培训班的通 知各有关单位: X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质冶金采矿有色海洋生化环境石化商检电子公安考古难融化物和陶瓷工业RoHs和 WEEE分析等领域分析技术已从主次量微量元素分析扩展到痕量元素分析元素成分微区分布分析等新近发展到对大气尘埃的分析生化医药纳米材料和薄膜分析随着新分析仪器的
中国测试技术研究院广州分院始建于1936年重组于1950年其工作职能与业务范畴隶属国家质量监督检验检疫总局管辖经广东省质量技术监督局与广州市质量技术监督局批准授权广东省眼镜产品质量监督检验站广州市眼镜产品质量监督检验站广州市计量器具产品质量监督检验站也挂靠在中国测试技术研究院广州分院同时中国测试技术研究院广州分院亦为中国实验室国家认可委员会AS)认可授权的计量校准检测实验室其出具的校准检测报
Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱仪的结构和性能蓝美秀第一章 X射线荧光光谱仪的结构和性能可分为:同步辐射X射线荧光光谱质子X射线荧光光谱全反射X射线荧光光谱波长色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱等 X射线荧光光谱的主要结构部分 :光源色散元件探测器谱仪控制数据处理 §1.1 激发源激发样品的光源主要包括:具有各种功率的X射
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