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• 14-4 迈克耳孙干涉仪 等倾干涉.ppt

  一迈克耳孙干涉仪迈克耳孙干涉仪实物迈克耳孙干涉仪实验装置单色光源反射镜反射镜迈克尔孙干涉仪的主要特性两相干光束在空间完全分开，并可用移动反射镜或在光路中加入介质片的方法改变两光束的光程差干涉条纹的移动解二等倾干涉等倾干涉条纹为相同倾角入射光经 M1、M2 反射会聚后所形成的点的轨迹

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  A1 等倾干涉条纹Bri2rC§17-4 薄膜干涉等倾条纹 光波经薄膜两表面反射后相互叠加所形成的干涉现象，称为薄膜干涉。薄膜干涉可分成等倾干涉和等厚干涉两类。光束1、2的光程差为： rBiA CD21Si ·····等倾干涉条纹考虑折射定律光束1、2的光程差为：或 rBiA CD21Si ·····得等倾干涉条纹 1） 对于透射光：2） 垂直入射时：3） 讨 论：等倾干涉条纹明纹暗纹倾角i相同的

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  1单层膜是光学薄膜中最基本的单元, 由三层介质构成。光入射至单层介质膜，在膜层中有电磁场分布，对三层介质的场量分析时以麦克斯韦电磁理论为依据。§4-4 薄膜系统光学特性的矩阵计算方法一、单层膜 根据电磁场理论，在两种介质面上电场E和磁场H的切向分量保持连续:23特征矩阵 4二、双层膜和多层膜 每个单层膜都有他的特征矩阵M(h)，周期数为N的多层膜总的特征矩阵等于N个M(h)相乘的结果 MI其中M＝

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  1单层膜是光学薄膜中最基本的单元, 由三层介质构成。光入射至单层介质膜，在膜层中有电磁场分布，对三层介质的场量分析时以麦克斯韦电磁理论为依据。§4-4 薄膜系统光学特性的矩阵计算方法一、单层膜 根据电磁场理论，在两种介质面上电场E和磁场H的切向分量保持连续:23特征矩阵 4二、双层膜和多层膜 每个单层膜都有他的特征矩阵M(h)，周期数为N的多层膜总的特征矩阵等于N个M(h)相乘的结果 MI其中M＝

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  等厚干涉 薄膜等厚干涉是利用透明上下表面对入射光的依次反射所得到的两束反射光在想遇时会发生干涉其光程差取决于产生反射光的薄厚程度光的干涉现象说明了光具有波动性等厚干涉可用来检验零件表面光洁度和平直度精密测量曲面的曲率半径薄膜厚度和微小角度还可以研究零件的内应力分布测定样品的膨胀系数原理牛顿环 如图所示将一块曲率半径 R 很大的平凸透镜的凸面放在一块光学平板玻璃上在透镜的凸面

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  一 劈 尖 1）劈尖 每一条纹对应劈尖内的一个厚度当此厚度位置改变时对应的条纹随之移动.1）干涉膨胀仪由一块平板玻璃和一平凸透镜组成 M半透半反镜暗纹3）将牛顿环置于 的液体中条纹如何变 问：当油膜中心最高点与玻璃片的上表面相距 时干涉条纹如何分布可见明纹的条数及各明纹