CPKplex Process Capability index 的缩写是现代企业用于表示制程能力的指标 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上作为制程持续改善的依据 当我们的产品通过了GageRR的测试之后我们即可开始Cpk值的测试 CPK值越大表示品质越佳 C
中国需要戴明管理不是目标管理为什么要学习戴明管理方法戴明管理哲学是日本经济奇迹背后的驱动力——美国今日时报戴明对日本和美国都产生了难以估量的影响——彼得·德鲁克在日本质量控制最著名的人是美国人戴明博士——华尔街日报如果你想要学习丰田管理那你就先学习戴明管理方法因为丰田喜一郎说:没有一天我不想戴明博士对丰田的意义戴明是我们管理的核心日本欠他很多如果你想要学习源自丰田管理体系(Toyota Syste
1先算出所收集数据的平均值:Average2求出所收集数据的方差:σ3求CPL ? CPLAverage-下限3σ4求CPU ? CPU上限-Average3σ5CPKMin(CPLCPU)什么是CP和CPK(工序能力指数) CP(或Cpk)是英文Process Capability index缩写汉语译作工序能力指数也有译作工艺能力指数过程能力指数 工序能力指数是指工序在一定时间里处于控
Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)3s (Mu - LSL)3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为:制程能力指数是某个工程或制程水准的量化反应也是工程评估的一类指标 2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca Cp. Ca: 制程准确度 Cp: 制程精密度 3. Cpk Ca Cp三者的关系: Cpk = Cp ( 1 - Ca)Cpk是Ca及Cp两者的
制程能力指数 制程准确度Ca 制程精密度Cp 制程能力Cpk 估计不良率ppm 计量值公式 统计数值 直方图 制程能力分析图 X-R管制图 XMED-R管制图 X-s管制图 X-Rm管制图 计数值公式 推移图分析 p管制图 1-p管制图 np管制图 c管制图 u管制图 dppm管制图 附录 柏拉图 抽样分配常数表 管制界限系数 综合制程能力指数Cpk: 同时考虑偏移及一致程度 Cpk ( 1 -
CPK知識一﹑ 目的﹕用於預防以了解和掌握工序的質量狀況能否滿足質量標准的規定的具體要求用於分析﹕以研究和找出工序不能符合質量標准的具體原因提供依據﹕為設計工藝﹐檢查部門在制定產品質量標准﹐設計工裝夾﹐進行工序設計﹐編制工藝規程﹐制定作業指導書﹐設立管理點決定產品批訂檢驗方式等方面提供資料和依據二﹑ 范圍: 適用于事業8部與品質活動相關的所有人員.三﹑ 內容﹕ 1. 名詞解
CPKplex Process Capability index 的缩写是现代企业用于表示制程能力的指标 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上作为制程持续改善的依据 当我们的产品通过了GageRR的测试之后我们即可开始Cpk值的测试 CPK值越大表示品质越佳 CPK=m
首先我们先说明PpCp两者的定义及公式 Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数定义为容差宽度除以过程能力不考虑过程有无偏移一般表达式为: Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数定义为不考虑过程有无偏移时容差范围除以过程性能一般表达式为: (该指数仅用来与Cp及Cpk对比或和CpCpk一起去度量和确认一段时
统计分析方法-CPCPK :范伟杰Statistic Analysis-CPCPKEditor:Fan Weijie一摘要:本文主要描述了CPCPK统计方法以及在NBBSE的应用Abstract:This document describes the CPCPK and the applications in NBBSE.二关键词:CPCPK统计方法Key words:CP CPK stati
CPU: Intel英特尔 酷睿 i5 3470 盒装 118022NM工艺4核4线程主频最大睿频 三缓6M功耗77W集成HD2500亮机卡主板:技嘉 GA-B75M-D3V 440备选:华擎 B75 Pro3 450备选:微星 b75ma-p45 440备选:华硕p8b75-m lx 440内存 宇瞻 盔甲武士 DDR3 1600 单根4G 190宇瞻终身保固
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