(1)为什么p-n结势垒厚度随着掺杂浓度的提高而变薄——因为在热平衡时一定的空间电荷就正好能够产生抵消扩散作用的确定的内建电场而在耗尽层近似下空间电荷主要是电离杂质中心所提供的电荷故在掺杂浓度一定时一定的空间电荷也就对应于一定的势垒厚度如果提高掺杂浓度则就增大了电离杂质中心的浓度即增大了空间电荷密度于是在保持空间电荷总量大致一定的情况下就将使得势垒厚度变薄相反如果降低半导体的掺杂浓度则势垒厚
表1样品二的E-J数据 温度°C 场强Vm 电流密度Am2 223881 164925 84328 38060 259701 223134 137313 77612 281343 279104 251493 202239 285075 284328 275373 248507 291791 291791 291045 288060 295522 2955
物理实验报告 数学系 张冬梅 PB03001104实验题目: PN结正向压降与温度特性的研究实验目的:1.了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式2.在恒流供电条件下测绘PN结正向压降随温度变化曲线并由此确定其灵敏度和被测PN结材料的禁带宽度3.学习用PN结测温的方法实验原理:理想PN结的正向电流IF和压降VF存在如下近似关系
实验12 PN结正向压降与温度关系的研究随着半导体工艺水平的不断提高和发展半导体PN结正向压降随温度升高而降低的特性使PN结作为测温元件成为可能过去由于PN结的参数不稳它的应用受到了极大限制进入二十世纪七十年代以来微电子技术的发展日趋成熟和完善PN结作为测温元件受到了广泛的温度传感器有正温度系数传感器和负温度系数传感器之分正温度系数传感器的阻值随温度的上升而增加负温度系数传感器的阻值随
PN结正向压降与温度特性的研究评分:__________陈伟灿PB06210479一、实验目的1.了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式。2.在恒流供电条件下,测绘PN结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测PN结材料的禁带宽度。3.学习用PN结测温的方法。二、实验原理理想PN结的正向电流IF和压降VF存在如下近似关系 (1)其中q为电子电荷;k为波尔兹曼常数;T为绝对温度;Is为反
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大学物理实验之PN结正向压降温度特性 0506白潇pb05210258 20061113实验名称:PN结正向压降温度特性实验目的:1,了解PN结正向压降随温度变化的基本关系式 2,在恒流供电条件下,测绘PN结正向压降随温度的变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测PN结材料的禁带宽度 3,学习用PN结测温的方法实验原理:见预习报告实验内容:一,仪器预热和初始值的测量将仪器开关打开预热将”测量选择
升温时的△VT拟合直线:Linear Regression for Data1_B:Y = A + B * XParameterValueError------------------------------------------------------------A6263819 063327B-212525000186------------------------------------
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