相关文档

• 小车程序--采用C8051f020芯片.doc

  小车程序 采用C8051f020芯片include<>include<>define uchar unsigned chardefine uint unsigned intdefine SYSCLK 22118400sfr PH0=0xFAsfr PH1=0xFBsbit IN1=P30sbit IN2=P31 sbit IN3=P32sbit IN4=P33

• 用C8051F120单片机驱动FLASH芯片-AT45DB161D.doc

  用C8051F120单片机驱动FLASH芯片 AT45DB161D2011-11-26 08:51 AT45DB161D 驱动 Pinout: - SPI SCK (digital output push-pull) - SPI MISO (digital input open-drain) - SPI MOSI (digital output push-pull) NSS

• 用C8051F120单片机驱动FLASH芯片-AT45DB161D.doc

  用C8051F120单片机驱动FLASH芯片 AT45DB161D2011-11-26 08:51 AT45DB161D 驱动 Pinout: - SPI SCK (digital output push-pull) - SPI MISO (digital input open-drain) - SPI MOSI (digital output push-pull) NSS

• TEA5767芯片程序.doc

  1.0 04162007 lilin RDA1.1 06012007 lilin RDA insert 50ms delay in FmWaitSTC1 subprogram.1.2 06222007 lilin RDA add stopseek and filter false station1.3 07292007 lilin RDA move filter false stat

• 一带程序的芯片.doc

  一.带程序的芯片芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序 故在测试中不会损坏程序.但有介绍:因制作芯片的材料所致随着时间的推移(年头长了)即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 尽可能给以备份. 　　SPROM等以及带电池的RAM芯片均极易破坏程序.废电路板这类芯片 是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后是否就破坏了程序还未有定论.尽管如此同仁们在遇到这种情况时还是小心为

• 时钟芯片sd2300程序.doc

  #

• 哪里买芯片车载IC采购.doc

  成功采购员必看之－集成电路IC辩别知识总结为五点：一看二断三剖四测五照 一看(Look)1看表面的丝印（烙印）型号是否与所定器件型号一致主要包括品牌标志前缀器件功能序号后缀特殊标示品牌标志：大部分器件品牌标志少部分没有的（举例略）前缀：代表半导体厂商（举例略）器件功能序号：描述同系列器件的功能特性通用器件的诸多厂家其器件功能序号相当部分相同但也有不同的 举例： 8870 LM317

• 74HC595-芯片资料附程序.pdf.pdf

  #

• E2PROM芯片24C02的读写程序.doc

  E2PROM芯片24C02的读写程序一实验目的：给24C02的内部RAM写入一组数据数据从24C02内部RAM的01h开始存放然后再把这组数据读出来检验写入和读出是否正确在这里我们给24C02中写入012的段码然后把它读出来送到数码管显示二理论知识准备：上面两个实验主要学习的是利用单片机的串口进行通讯本实验要介绍的是基于I2C总线的串行通讯方法下面我们先介绍一下I2C总线的相关理论知识 （一）I2

• 采集压缩芯片.doc

  #