Cliquez pour modifier le style du titre du masqueCliquez pour modifier les styles du texte du masqueDeuxième niveauTroisième niveauQuatrième niveauCinquième niveau第一节 离子探针(SIM) 第四章 离子探针和场离子显微镜
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM 原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同它用一个微小的探针来摸索微观世界. AFM超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制在立体三维上观察物质的形貌并能获得探针与样品相互作用的信息.典型AFM的侧向分辨率(xy方向)可达到
EMA与SEM不同的是前者着重微区成分分析而后者主要用作图像观察EMA和SEM中作微区化学成分分析都基于测量电子束激发产生的x射线这些x射线的标定和测量可以用能谱仪(EDS)或晶体分光谱仪(CDS)后者有时称作波谱仪(WDS)虽然近年来SEM配上EDS系统这种配置的仪器使用日益广泛但请记住.由于EMA本身的一些特点使它在做微区成分分析上的优越性明显地胜过SEMEMA一般配几道CDS并有非常稳定的样
本章主要内容 由于作用在试样上的电子束很细形状如针故称之为电子探针也正是由于电子束很细其作用范围很小因此利用电子探针可以对试样的微小区域进行化学成分的定性分析和定量分析材料现代测试方法 电子探针显微分析Dept. of MSE CQU X射线波长色散谱仪主要由分光晶
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第二十三章 扫描电子显微分析与电子探针 第一节 扫描电子显微镜工作原理及构造 一工作原理 图22-1 扫描电子显微镜原理示意图 二构造与主要性能 扫描电子显微镜由电子光学系统(镜筒)偏转系统信号检测放大系统图像显示和记录系统电源系统和真空系统等部分组成 1.电子光学系统 由电子抢电磁聚光镜光栏样品室等部件组成作用:获得扫
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第五章扫描探针显微镜技术及其应用5-1 扫描探针显微镜的产生和历史5-2 扫描探针显微镜的原理5-3 扫描探针显微镜的特点与应用5-4 存在的问题及其展望5-5 总结参考文献扫描探针显微镜的产生和历史扫描探针显微镜产生的必然性 1 表面结构分析仪器的局限性1933年电子显微镜RuskaKnoll透射电子显微
第十五章 电子探针显微分析电子探针的原理电子探针仪的结构波谱仪(WDS)能谱仪(EDS)电子探针仪分析方法8/30/20231HPU-LQ电子探针的原理用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品中各元素的特征(标识) X射线:定性分析分析特征X射线的波长(或特征能量),得到元素的种类;定量分析-分析特征X射线的强度,得到样品中相应元素的含量8/30/20232HPU-LQ电子探针仪的结构电子探针仪主要
X射线能谱仪(EDS)X射线波谱仪(WDS)EDS与 WDS间的比较X射线显微分析在材料科学研究中的应用X射线探测器脉冲处理器模数转换器多道分析器是将试样各元素的特征X射线峰显示再能谱仪上按其能量数值确定试样的元素组成定性分析的一般方法注意事项X射线波谱仪(Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer WDS)WDS的结构(a)能谱曲线
离子交换树脂在交换反应中可交换离子的数目用交换容量表示单位 m mol g 干树脂 将离子交换树脂装入玻璃柱即构成离子交换分离柱可用来分离干扰离子当淋洗液为中性水溶液时干扰离子保留在柱中 离子交换反应是一可逆反应被交换离子随淋洗液pH不同而在分离柱中移动由于不同离子与离子交换树脂之间的作用力不同流出分离柱的时间不同而被分离 一般使用的离子交换树脂的粒度
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