大桔灯文库logo

下载提示:1. 本站不保证资源下载的准确性、安全性和完整性,同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,大桔灯负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。

相关文档

  • 9-.ppt

    分类:固定式ROM——内容在出厂时已被完全固定 可编程ROM(PROM)——出厂时全部存储 1用户可根据需要改写 重复可编程ROM(EPROM)——用紫外线或 X 射线照射时擦去然后又可重新编制信息D2010内 容D2 输入任意一个地址码译码器就可使与之对应的某条字线为高电平进而从位线上读出四位输出数字量D12可编程ROM(PROM)1

  • _.ppt

    集成存储器 可编程逻辑器件 .1 只读存储器(ROM) 只读存储器是存储固定信息的存储器即事先将存储的信息或数据写入到存储器中在正常工作时只能重复读取所存储的信息代码而不能随意改写存储信息内容故称只读存储器简称ROM(Read Only Memory)ROM电路按存储信息的写入方式一般可分为固定ROM可编程ROM(PROM)和可擦除可编程ROM(EPROM) 固定ROM适用于产

  • 6-.ppt

    引言 半导体存储器用来存储大量的二值信息按照集成度划分它属于大规模集成电路(LSI)根据其结构和工作原理的不同工程中一般将半导体存储器分为只读存储器(ROM)和随机存取存储器(RAM)两大类 SRAM和DRAM这两类RAM的整体结构基本相同它们之间的不同点在于存储单元的结构和工作原理有所不同SRAM以静态触发器作为存储单元依靠触发器的自保持功能存储数据而DRAM以MOS管栅极电容的电荷存储效应

  • 7.ppt

    概 述第 7 章 大规模集成电路 随机存取存储器(RAM) 只读存储器(ROM) 71 概述数字电路集成度越来越大SSICMSICLSICVLSIC ASIC(专用集成电路)可编程逻辑器件可编程只读存储器(PROM)可编程可擦除只读存储器(EPROM)通用阵列逻辑(GAL ) 现场可编程门阵列 (FPGA) PLD使用前内部是“空的”,现有的设计自动化软件(QuartusⅡ、IES等)用硬件描述语

  • 7(1).ppt

    概 述第 7 章 大规模集成电路 随机存取存储器(RAM) 只读存储器(ROM) 71 概述数字电路集成度越来越大SSICMSICLSICVLSIC ASIC(专用集成电路)可编程逻辑器件可编程只读存储器(PROM)可编程可擦除只读存储器(EPROM)通用阵列逻辑(GAL ) 现场可编程门阵列 (FPGA) PLD使用前内部是“空的”,现有的设计自动化软件(QuartusⅡ、IES等)用硬件描述语

  • 子技术新课件-9-.ppt

    分类:固定式ROM——内容在出厂时已被完全固定 可编程ROM(PROM)——出厂时全部存储 1用户可根据需要改写 重复可编程ROM(EPROM)——用紫外线或 X 射线照射时擦去然后又可重新编制信息D2010内 容D2 输入任意一个地址码译码器就可使与之对应的某条字线为高电平进而从位线上读出四位输出数字量D12可编程ROM(PROM)1

  • 技术基础9.ppt

    第 9 章工艺集成IC制造工艺流程 原始材料:抛光晶片 薄膜成型:外延膜、电介质膜、多晶硅膜、金属膜,氧化膜 掺杂与光刻:扩散、注入、各种光刻 刻蚀:湿法与干法 IC芯片:图形转换到晶片IC芯片与集成度 小规模集成电路SSI:元件数个 中规模集成电路MSI:元件数个黄君凯 教授图9-1IC制造流程 大规模集成电路LSI:元件数 个 超大规模集成电路VLSI:元件数个 特大规模集成电路ULSI:元件

  • 技术基础9-2.ppt

    921基本制造过程(1)隔离方法 横向隔离:氧化物墙 纵向隔离: 结(2)晶体管制造工艺埋层工艺(减少集电极串联电阻) 预淀积:低能砷离子注入 主扩散:高温扩散形成层N 型外延层 模拟电路:厚()外延层和低 掺杂浓度以适应高电压 数字电路:薄()外延层和高 掺杂浓度以适应低电压黄君凯 教授图9-8双极晶体管工艺(Ⅰ)横向隔离 沟道隔断:硼离子注入形成场层下的隔断区,以防表面反型。 局部硅氧化隔离(

  • 技术基础9-10.ppt

    NMOS和PMOS的阈值电压: 和【分析】 注入硼离子,增加了NMOS 的衬底 掺杂浓度,故增大了 ,并减少了 PMOS 的掺杂浓度,故减小了。 增加栅氧化层厚度,可同时增大和,从而场氧化层比栅氧化层 的大得多,因此栅下比场下更 易形成反型沟道。黄君凯 教授图9-26阈值电压与衬底掺杂和栅氧厚度关系( 多晶硅栅)933CMOS技术(1) CMOS反相器CMOS 的基本结构黄君凯 教授图9-25CM

  • -运算放.ppt

    单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级华成英 hchyatsinghua.edu第四章 集成运算放大电路清华大学第四章 集成运算放大电路§4.1 概述§4.2 集成运放中的电流源§4.3 集成运放的电路分析及其性能指标§4.1 概述一集成运放的特点二集成运放电路的组成三集成运放的电压传输特性 一集成运放的特点(1)直接耦合方式充分利用管子性能良好

违规举报

违法有害信息,请在下方选择原因提交举报


客服

顶部