相关文档

• 材料显微结构分析方法(TEM).ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级材料显微结构分析方法清华大学研究生课程VIII. 透 射 电 子 显 微 镜 一. 透射电镜结构原理 电子光学系统 自动操作程度控制及数据处理微机系统 真空系统 10－4－10－6乇供电系统高压稳定度 VIII. 透 射 电 子 显 微 镜 电子光学系统： 电子照明系统 (电子枪会聚镜系统) 2

• 材料显微结构分析方法.doc

  材料显微结构分析方法Analysis of Materials Microstucture　一.内容提纲：材料显微结构分析是材料科学中最为重要的研究方法之一准确快捷的分析结果为材料的制备工艺材料性能微结构表征研究及其材料显微结构设计提供可靠的实验和理论依据本课程主要介绍包括物显微结构形貌观察物相种类确定及其定量分析Rietveld拟合方法择优取向类型及其测定微晶及纳米粉体尺寸测定体材料及其微区成分

• 13材料的显微结构分析-新.doc

  材料的显微结构分析实验目的1.观察不同材料在显微镜下的显微结构 2.掌握偏光显微镜结构和使用方法3.学会利用偏光显微镜区分均质体和非均质体实验背景及意义材料的化学组成和显微结构是决定材料性能及应用效果的本质因素研究材料的显微结构特征及其演变过程以及它们与性能之间的关系是现代材料科学研究的中心内容之一材料的显微结构与材料制备中的物理化学变化密切相关通过显微结构分析可以将材料的组成－工艺过程－结

• 材料显微结构分析方法——清华大学研究生课程.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级材料显微结构分析方法清华大学研究生课程材料显微结构分析方法一. 主要讲授内容：1．物相定量分析 XRD2．择优取向定量测定 XRD3．微晶晶粒尺寸的测定

• 显微结构分析-9.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级电子显微像的特点通常像应该和真实的物相像用可见光照明时玻璃透镜成的像与物的表面完全相似成像过程：通过物表面对光的折射和反射直接成像电子显微像比较复杂入射到样品中的电子束受到原子的散射在样品下表面的出射电子波中除透射束外还有受晶体结构调制的各级衍射束它们的振幅和相位都发生了变化依照选取成像信息(用透射束或衍射束成像)的不同所获得

• 现代分析测试技术-显微技术SEM-TEM-AFM.ppt

  d= ? ?d为显微镜的分辨本领 ?为光的波长?为透镜的孔径最大值为因此 d= 12.? 当光的波长为400nm 则 d=200nm现代分析测试技术—显微技术现代分析测试技术—显微技术现代分析测试技术—显微技术FIG. 2. HRTEM images of (A) the fragments of the wall outer and inner surfaces of

• 现代材料分析方法-原子力显微镜.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM 原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同它用一个微小的探针来摸索微观世界. AFM超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制在立体三维上观察物质的形貌并能获得探针与样品相互作用的信息．典型AFM的侧向分辨率(xy方向)可达到

• 其他显微分析方法.ppt

  一. 离子探针显微分析 离子探针是一种微区成分分析仪器利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面使之激发和溅射二次离子经过加速并进行质谱分析不同元素的离子具有不同的荷质比em据此可描出离子探针的质谱曲线因此离子探针可进行微区成分分析分析区域可降低到1-2um直径和<5nm的深度大大改善表面了表面成分分析的功能 扇形磁铁（具有均匀磁场）的作用

• 显微镜的结构和用法.ppt

  #

• 1.3ANSYS结构分析材料模型.ppt

  13 ANSYS结构分析材料模型1 材料模型的分类??结构分析材料属性:线性(Linear),非线性(Nolinear),密度(Density),热膨胀(Thermal Expansion),阻尼(Damping),摩擦系数( Friction Coefficient),特殊材料(Specialized Materials)等七种,可通过材料属性菜单分别定义。 b材料模型：线性、非线性及特殊材料三