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4 位双向移位寄存器(并行存取)
实验名称:并行置位的移位寄存器 学生: 班级: :指导老师: 同组人: 成绩:实验目的及要求: 学习数据对象IF语句的使用方法学习用VHDL语言设计时序电路的方法并仿真验证自己的设计项目实验原理: 当CLK的上升沿到来时进程被启动如果这时预置使能LOAD为高电平则将输入端口的8位二进制数并行置入移位寄存器中作为串行右移输出的初始
北华航天工业学院教案教研室:电工电子基础 授课教师:李国洪课程名称EDA技术与实践课次21主 要 教 学 内 容时间分配实验十时序电路设计串入并出移位寄存器1.设计一个8位串入并出移位寄存器2.将编辑好的16-4优先编码器进行编译和仿真3.编程下载用EDA实验开发系统进行硬件验证90教学目的通过上机实践掌握VHDL语言
移位寄存器 o 查看图片 t _blank ?? ?? t _blank 寄存器(Shift Register) 在 t _blank 数字电路中用来存放 t _blank 二进制数据或代码的电路称为寄存器 寄存器是由具有存储功能的 t _blank 触发器组合起来构成的一个触发器可以存储一位二进制代码存放N位二进制代码的寄存器需用n个触发器来
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实验三 移位寄存器及其应用一、实验目的二、实验原理三、实验器件四、实验内容实验目的1、进一步掌握时序逻辑电路的设计步骤和方法;2、熟悉和了解移位寄存器的工作原理功能及应用方法;3、熟悉中规模4位双向移位寄存器的逻辑功能。实验原理具有寄存数据功能的逻辑电路称为寄存器。移位寄存器是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的移位寄存器称为双向移位寄存器,只需要改变左、右
8 位串入并出移位寄存器1. 概述74HC16474HCT164 是高速硅门 CMOS 器件与低功耗肖特基型 TTL (LSTTL) 器件的引脚兼容74HC16474HCT164 是 8 位边沿触发式移位寄存器串行输入数据然后并行输出数据通过两个输入端(DSA 或 DSB)之一串行输入任一输入端可以用作高电平使能端控制另一输入端的数据输入两个输入端或者连接在一起或者把不用的输入端接高电平一定
164 为 8 位移位寄存器其主要电特性的典型值如下:?5474164? 185mW???? 5474LS164 80mW当清除端(CLEAR)为低电平时输出端(QA-QH)均为低电平 串行数据输入端(AB)可控制数据当 AB任意一个为 t _blank 低电平则禁止新数据输入在时钟端(CLOCK)脉冲上升沿作用下Q0 为低电平当AB 有一个为高电平则另一个就允许输入数据并在CLOCK
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