频率特性测试仪设计报告【摘要】该频率特性测量仪采ARM控制核心主要由正弦波发生器数据采集存储处理显示打印等功能模块组成其中数据处理包括了幅频测量以及相频测量部分实际操作通过ARM触屏控制来实现幅频特性和相频特性的测量包括参数预置点测结果的显示以及用模拟示波器单独或同时显示幅频特性曲线和相频特性曲线本系统采DDS芯片9834实现信号发生电路频率值与步长均能灵活准确地预置被测网络采用有源带阻双T
电子设计竞赛论文电气及其自动化工程学院题目:频率特性测试仪第三组组员: 陈吉洋杨在然周佳佳【摘要】该频率特性测量仪采ARM控制核心主要由正弦波发生器数据采集存储处理显示打印等功能模块组成其中数据处理包括了幅频测量以及相频测量部分实际操作通过ARM触屏控制来实现幅频特性和相频特性的测量包括参数预置点测结果的显示以及用模拟示波器单独或同时显示幅频特性曲线和相频特性曲线本系统采DDS
频率特性测试仪1设计思路 频率特性测试仪也称扫频仪用于测量被测网络的幅频特性和相频特性是电子领域中常用的设备之一 频率特性测试系统一般包含测试信号源被测网络检波及显示三个部分本设计欲采用基于DDSDSP的频率特性测试仪的设计方法本系统中扫频信号源采用直接数字频率合成(DDS)合成技术被测电阻网络运用阻容双T网络以DSPCPLD为核心控
频率特性测试仪摘要:本实验以DDS芯片AD9851为信号发生器以单片机MSP430F449为核心控制芯片以FPGA为辅助加之于外围电路来实现幅频及相频的检测系统由6信模块组成:正弦扫频信号模块待测阻容双T网络模块整形模块幅值检测模块相位检测模块及显示模块先以单片机送给AD9851控制字产生100HZ—100KHZ的扫频信号经过阻容双T网络
实验五RC网络频率
基于DSP的低频频率特性测试仪时间:2011-04-02 12:33:47 来源: t _blank 电子设计工程 :闻 程齐向东王 兴杜 杨 太原科技大学摘要:传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵且得不到相频特性更不能保存频率特性图和打印频率特性图也不能与计算机接口给使用者带来了诸多不便而本文采用DDS技术作为扫频信号源同时采用了集成模拟芯片AD8302对幅度和相位进行检测用DSP芯片
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级频率特性测试仪相关知识提问:1. 什么是频域测量它与时域测量有哪些区别和联系2.什么是电路的幅频特性3.时频域分别适合于观测哪些信号各有什么优点一:时域测量和频域测量的比较.要点1.时域测量观察一个电信号的普通方法是显示信号波形即以时间t为水平轴是在时间域内观察信号称为信号的时域分析如下图所示方波与正弦波皆为时域测量显示波形
自动控制理论实验报告 实验题目系统频率特性测量 :班级:: 指导老师: 同组学生:时间: TIME \@ yyyy-M-d 2005-1-16 一、实验目的1.加深了解系统及元件频率特性的物理概念。2.掌握系统及元件频率特性的测量方法。3.掌握根据频率响应实验结果绘制Bode图的方法。4.根据实验结果所绘制的图,分析二阶系统的主要动态特性(Mp ,ts)。二、实验仪器1.EL-AT-II
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