成分和价键分析概论各种分析手段的特点X射线谱当用X射线高速电子和其它高能粒子轰击样品时试样中各元素的原子若受到激发将处于高能量状态当它们向低能量状态转变时产生特征X射线分析特征X射线的波长(或特征能量)和强度可确定组成样品的元素种类及其含量电子探针采用聚集电子束激发样品用来测定特征波长的谱仪叫做波谱仪用来测定X射线特征能量的谱仪叫能谱仪能方便地分析从4Be到92U之间的所有元素利用X光量子的能量不
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱分析Outline概论基本原理X射线激发X射线探测X射线荧光光谱仪定量分析方法基体校正应用一概论X射线光谱分析的发展历程1895年发现X射线1910年获得特征X射线光谱建立X射线光谱学50年代出现商用X射线发射与荧光光谱仪60年代出现X射线能量色散X射线荧光光谱仪近代出现TXRF PXRF SRXRF PIXE
Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
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样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X 射线荧光光谱分析Which elements are presentWhat are their concentrations第一章X射线荧光光谱基本原理X射线的发现应用 X射线简介X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射波段在10-3-10nm X射线光谱分为连续光谱和特征光谱???特征光谱的
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X-射线荧光光谱仪基本原理及应用基础理论与知识1234仪器构造与原理样品制备与分析案 例 分 析 当一束高能粒子与原子相互作用时如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能将该轨道电子逐出对应的形成一个空穴使原子处于激发状态K层电子被击出称为K激发态同样L层电子被击出称为L激发态此后在很短时间内由于激发态不稳定
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