单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级电子探针(EPMA-1600) Electron probe microstructure analysis电子探针1 结构2 工作原理3 分析方法 4 应用5 实例分析 6 样品制备 1电子探针的结构DDSC控制Data处理Inter face接口EthernetHDMOFD用于观察CRTEWSMouseColor prin
电子探针科技名词定义中文名称:电子探针 英文名称:electron probe 定义:电子枪发射的电子束被聚光镜聚集成直径为纳米级的细束 所属学科: HYPERLINK t _blank 机械工程(一级学科) HYPERLINK t _blank 光学仪器(二级学科)电子光学仪器-电子光学部件(三级学科) 本内容由 HYPERLINK t _blank 全国科学技术名词
单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式第五章电子探针电子探针得到的是什么图像它与电镜和衍射有什么不同之处电子探针用来测什么 电子探针的全称为电子探针X射线显微分析它是电子光学和X射线光谱的结合产物 现代的电子探针是扫描型电子探针通过电子束在样品表面进行光栅扫描并利用色散的特征X射线信号调制阴极射线管的亮度这样得到的扫描图象可显示表面元素的分
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级电子探针显微分析仪杨梅君什么是电子探针电子探针(Electron probe micro analysis EPMA)微区分析(微米级)探测元素范围:5B-92U具备SEM的功能SEMWDSEDS样品各种信号图像观察元素分析加速电子束二次电子背散射电子俄歇电子X射线阴极荧光入射电子束透射电子电子束激发产生各种信号EPMA三种信
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第六章 电子探针 材料成份分析的经典方法:化学分析方法特点: 历史悠久分析精度高一个独立学科缺点: 样品需破坏分析时间较长不能进行微区分析材料成分分析的最常用方法:物理分析方法 特点:1)非破坏的方法 2)绝大多数物理分析方法的分析区域很小 3)物理分析方法多为表面分析方法 4)分析速度快 5)灵敏度高可测出痕量元素
第十五章 电子探针显微分析电子探针的原理电子探针仪的结构波谱仪(WDS)能谱仪(EDS)电子探针仪分析方法8/30/20231HPU-LQ电子探针的原理用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品中各元素的特征(标识) X射线:定性分析分析特征X射线的波长(或特征能量),得到元素的种类;定量分析-分析特征X射线的强度,得到样品中相应元素的含量8/30/20232HPU-LQ电子探针仪的结构电子探针仪主要
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EMA与SEM不同的是前者着重微区成分分析而后者主要用作图像观察EMA和SEM中作微区化学成分分析都基于测量电子束激发产生的x射线这些x射线的标定和测量可以用能谱仪(EDS)或晶体分光谱仪(CDS)后者有时称作波谱仪(WDS)虽然近年来SEM配上EDS系统这种配置的仪器使用日益广泛但请记住.由于EMA本身的一些特点使它在做微区成分分析上的优越性明显地胜过SEMEMA一般配几道CDS并有非常稳定的样
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级3 电子探针x射线显微分析电子探针仪(EPMA)是一种微区成分分析仪器 采用被聚焦成小于1um的高速电子束轰击样品表面利用电子束与样品相互作用激发出的特征x射线测量其λ和Ι确定微区的定性定量的化学成分SEM-EPMA组合型仪器具有扫描放大成像和微区成分分析两方面功能3.1 工作原理具有足够能量的细电子束轰击试样表面激发
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级电子探针原理及应用一结构工作原理二应用三电子探针实验四实例分析于凤云 EPMA-1600一 结构原理DDSC控制Data处理Inter face接口EthernetHDMOFD用于观察CRTEWSMouseColor printerImage memoryProfile memoryTrackballEPMA主机电子枪备用
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