单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级1第一篇 材料X射线衍射分析第一章 X射线物理学基础第二章 X射线衍射方向第三章 X射线衍射强度第四章 多晶体分析方法第五章 物相分析及点阵参数精确测定第六章 宏观残余应力的测定第七章 多晶体织构的测定2第七章 多晶体织构的测定本章主要内
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第一篇 材料X射线衍射分析第一章 X射线物理学基础第二章 X射线衍射方向第三章 X射线衍射强度第四章 多晶体分析方法第五章 物相分析及点阵参数精确测定第六章 宏观残余应力的测定第七章 多晶体织构的测定1第三章 X射线衍射强度本章主要内容第一节 多晶体衍射图相的形成第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数第
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第一篇 材料X射线衍射分析第一章 X射线物理学基础第二章 X射线衍射方向第三章 X射线衍射强度第四章 多晶体分析方法第五章 物相分析及点阵参数精确测定第六章 宏观残余应力的测定第七章 多晶体织构的测定1第二节 布拉格方程X 射线与原子内受束缚较紧的电子相遇时产生的相干散射波在某些方向相互加强而在某些方向相互减
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级绪 论一材料的组织结构与性能的关系1. 组织结构与性能的关系2. 微观组织结构控制二显微组织结构的内容材料显微组织是指相组成尺寸形状及其分布显微组织是性能的内在根据性能是显微组织的对外表现材料与工艺显微组织性 能1.晶体结构和晶体缺陷2.晶粒的大小与空间形态 3.第二相的成分结构尺寸形态数量及分布4.微区成份及
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第二篇 材料电子显微分析第八章 电子光学基础第九章 透射电子显微镜第十章 电子衍射第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析第十二章 高分辨透射电子显微术第十三章 扫描电子显微镜第十四章 电子背散射衍射分析技术第十五章 电子探针显微分析第十六章 其他显微结构分析方法1 高分辨电子显微术是材料原子级别显微组
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第二篇 材料电子显微分析第八章 电子光学基础第九章 透射电子显微镜第十章 电子衍射第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析第十二章 高分辨透射电子显微术第十三章 扫描电子显微镜第十四章 电子背散射衍射分析技术第十五章 电子探针显微分析第十六章 其他显微结构分析方法1第十四章 电子背散射衍射分析技术本章主要内容第一节
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第二篇 材料电子显微分析第八章 电子光学基础第九章 透射电子显微镜第十章 电子衍射第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析第十二章 高分辨透射电子显微术第十三章 扫描电子显微镜第十四章 电子背散射衍射分析技术第十五章 电子探针显微分析第十六章 其他显微结构分析方法1第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析本章主要内容第一节
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级2009.9计算机组成原理北京理工大学计算机科学技术学院第7章外部设备2009.9北京理工大学计算机科学技术学院第7章 外部设备是计算机系统中不可缺少的重要组成部分本章将介绍磁介质存储器的存储原理常用磁介质存储设备和其他辅助存储设备以及常见的输入输出设备的工作原理2009.9北京理工大学计算机科学技术学院7.1
在这一章里卡卡要给大家介绍霍尔传感器的原理特性霍尔集成电路(霍尔IC)及其应用霍尔IC可以用于测量地球磁场制成电罗盘将霍尔IC夹在环形铁心的缺口中可以制成大电流变送器霍尔传感器还广泛用于高斯计无刷电动机接近开关等霍尔传感器的最大特点是非接触测量bd 若磁感应强度B不垂直于霍尔元件而是与其法线成某一角度? 时实际上作用于霍尔元件上的有效磁感应强度是其法线方向(与薄片垂直的方向)
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