相关文档

• 半导体单晶晶向测定方法.doc

  发布200×-××-××发布200×-××-××实施中华人民共和国国家质量技术监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会 半导体单晶晶向测定方法Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal方法A X射线衍射定向法方法B 光图定向法(讨论稿)GBT 1555—200×代替GBT

• 半导体单晶激光定向.docx

  【实验内容】 1．熟悉激光晶轴定向仪的使用方法，并首先对激光晶轴定向仪进行调整。 2．观察被测单晶的外形特征，初步判别晶体的大致取向。 3．对单晶样品进行研磨、腐蚀处理，在晶向显微镜下观察不同单晶 111）、（100）晶向腐蚀坑形状。 4．把被测样品粘在夹具上，用定向仪测量。测定接近111及100晶向的硅单晶端面的偏离度。注意考察光图与腐蚀坑形状之间的关系。 5．确定 111单晶的（100）面

• 晶体定向和晶体学符号.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级晶体学基础第三章 晶体定向和晶体学符号 Chapter Outline 晶胞选取原则 晶体学坐标系 各晶系的定向方法 原子坐标 晶向指数 晶面指数 晶带指数 晶面间距与晶面夹角晶胞及其选取原则Ⅰ) 反应点阵的对称性Ⅱ)平行六面体内的棱和角相等的数目应最多Ⅲ)棱与棱之间直角的数目应最多Ⅳ)包含阵点的点数最少 空间点阵按照平行六

• 晶体定向与结晶符号.ppt

  单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级单击此处编辑母版标题样式 ????????????????????????????????????? ????????????????????????????????????? ????????????????????????????????????? ????????????????????????????????????? ??????

• 晶体的定向.ppt

  单击以编辑母版标题样式单击以编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第四章 晶体的定向和晶面符号为何要进行晶体定向晶面符号晶体定向的原则何谓晶体定向晶棱符号和晶带4620221一为何要进行晶体定向 晶体的具体形态取决于晶体的晶面与对称要素之间的位置关系要了解晶体的具体形态只知道对称型是不够的3L44L36L29PC3L44L36L29PC3L44L36L29PC4620222二晶体定向晶

• 5晶体定向.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级第五章 晶体定向与晶体符号晶体定向晶面符号 晶棱符号晶带与晶带定律一晶体定向：1.晶体定向的概念： 就是在晶体中以晶体中心为原点建立一个坐标系统具体说就是要选定坐标轴(晶轴)和确定各晶轴上单位长(轴长)这样晶体中的各个晶面晶棱以及对称要素就可以在其中标定方向(1)晶轴：是相交于晶体 中心的三根( XYZ )或四根(

• 非晶态半导体）.docx

  非晶态半导体 　　具有半导体性子的非晶态材料非晶态半导体是半导体的一个重要部门50年代.科洛米耶茨等人开始了对硫系玻璃的研究当时很少有人注重直至1968年.奥弗申斯基有关用硫系薄膜建造开关器件的专利发表往后才导致许多人对非晶态半导体的兴趣1975年.斯皮尔等人在硅烷辉光放电分化制备的非晶硅中实现了掺杂效应使节制电导和制造PN结成为可能从而为非晶硅材料的应用斥地了广漠的远景在理论方面.安德森和

• 结晶学-第四章-晶体定向晶面符号和晶带定律.ppt

  第四章 晶体的定向与结晶符号120o 请注意: 在晶体的宏观形态上根据对称特点选出的三根晶轴与晶体内部结构的空间格子的三个不共面的行列方向是一致的. 为什么因为空间格子中三个不共面的行列也是根据晶体的对称性人为地画出来的.而晶轴也是根据晶体的对称性人为地选出来的.晶体的内部对称与晶体的宏观对称是一致的所以 晶轴与三个行列就是一致的. 对称型的国际符号很简明1）它不将所有的对称要素都写出

• 2.2半导体单晶硅的缺陷.ppt

  单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级2.2 半导体单晶硅的缺陷半导体晶体缺陷的分类：1微观缺陷(点缺陷位错层错微缺陷等)2宏观缺陷(双晶星型结构杂质析出漩涡结构等)3晶格的点阵应变和表面机械损伤一点缺陷点缺陷的概念：由于晶体中空位填隙原子及杂质原子的存在引起晶格周期性的破坏发生在一个或几个晶格常数的限度范围内这类缺陷统称为点缺陷按其对理想晶格的偏离的几何位置及成

• 半导体晶片定位（物理气体沉淀）.doc

  半导体晶片定位（物理气体沉淀）目的 ???安全控制和保持半导体晶片精确的排列在物理气体沉淀形成的空间内????避免晶圆在晶腔很小的入口处由于排列不整齐引起的破损 ?? 确保材料层在晶圆的均匀沉积 ?解决方案 ?? 在PVD系统内晶圆片被转移进一些腔室内每一个腔室沉淀一种不同的物质传感器探头被固定在接受沉淀的腔室内（如图1）每一个探头测量晶圆片进入腔室内的结束位置 ?? KAMAN系统提供了模拟输出