旁压器结构形式的
3??/ 乫???
#
Keysight N2780B 系列
第三章 探伤仪探头和试块 第一节:探伤仪 探头 一压电效应与压电材料 某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力(压缩力和拉伸力)作用下产生异种电荷向正反两面集中而在晶体内产生电场这种效应称为正压电效应相反当这些单晶体和多晶体陶瓷材料处于交变电场中时产生压缩或拉伸的应力和应变这种效应称为负压电效应如图所示 负压电效应产生超声波正压电效应接收超声波并转换成电信号 常用的压电单晶有石英又称二氧化硅(Si
第卷第 期
超声波探伤仪探头进行垂直探伤用的单晶片探头主要用于纵波探伤直探头由插座外壳保护膜压电晶片吸声材料等组成探头接触面为可更换的软膜用于检测表面粗糙的工件型号(频率晶片Φ20mm)超声波探伤仪斜探头进行斜射探伤用的探头主要用于横波探伤斜探头由斜块压电晶片吸声材料外壳插座等组成超声波的发射接收由压电晶片完成斜块的作用是实现波型的转换当入射角(α)在第一临界角和第二临界角之间时根据超声波在不同声阻抗界面的折
这对压力容器检测要求已能满足故对晶粒较细的铸件轧制件焊接件等常采用对晶粒较粗大的铸件奥氏体钢等因会出现许多林状反射(由材料中声阻抗有差异的微小界面作为反射面产生的反射)也和材料噪声干扰缺陷检测故采用较低的的频率比较合适主要是提高信噪比减少晶粒反射此外应考虑检测目的和检测效果如从发现最小缺陷能力方面可提高频率但对大工件因声程大频率增加衰减急剧增加对粗晶材料如降低频率且减小晶片尺寸时则声束指向性变坏不
MPR200多探头辐射测量仪山西中辐核仪器有限责任 : : 目 录 TOC o 1-1 h z u l _Toc300776776 注意事项 PAGEREF _Toc300776776 h 1 l _Toc300776777 简介 PAGEREF _Toc300776777 h 2 l _Toc300776778 功能特点 PAGEREF _Toc300
#
违法有害信息,请在下方选择原因提交举报