实验二 半导体PN结的温度特性及弱电流测量实验目的在室温时测量PN结电流与电压的关系在不同温度条件下测量玻尔兹曼常数学校运算放大器组成电流—电压变话器测量弱电流实验仪器FD-PN-4型PN结物理特性综合实验仪TIP31c型三极管(带三根引线)一只长连接导线11根(6黑5红)手枪式连接导线10根3DG6(基极与集电极已短接有二根引线)一只铂电阻一只实验原理PN结物理特性及玻尔兹曼常数测量 由半导体
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半导体的导电特性 P型半导体与N型半导体的特征 PN结及其单向导电特性重点内容1一半导体的导电特性价电子4空穴自由电子abc444444444 共价键的两个价电子 (a)硅和锗原子的简化结构模型 (b)晶体的共价键结构及电子空穴对的产生
实验四 pn结特性测量一前言早在六十年代初人们就试图用PN结正向压降随温度升高而降低的特性作为测温元件由于当时PN结的参数不稳定始终未进入实用阶段随着半导体工艺水平的提高及人们不断的探索到七十年代时PN结以及在此基础上发展起来的晶体管温度传感器已成为一种新的测温技术跻身于各个领域了众所周知常用的温度传感器有热电偶测温电阻器和热敏电阻等这些温度传感器均有各自的优点但也有它的不足之处如热电偶适用温度
PN结正向电压温度特性的测定 1 实验目的了解PN结正向电压随温度变化的基本规律。掌握用计算机测绘恒流条件下PN结正向电压随温度变化的关系曲线。确定PN结的测温灵敏度。2 实验仪器科学工作室接口、放大器、恒流源、计算机3 实验原理31实验原理PN结是半导体器件的核心。在P(或N)型半导体中,用杂质补偿的方法将其中一部分材料转变成N(或P)型,这样,在两种材料交界处就形成了PN结,它保持了两种材
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