实验 半导体器件特性的测量与分析【摘要】这次实验主要是为了熟悉了解双极场效应晶体管发光光敏二极管等半导体单元器件的基本原理特性和主要参数同时学会使用半导体管特性图示仪测量各类半导体器件的特性曲线和直流参数了解微机半导体器件特性测试仪的优越性并学会使用【引言】近几十年来半导体材料和器件的发展很快半导体器件的种类很多典型的放大器件有双极型晶体管和场效应晶体管部分光电子器件的工作原理在先行课程中已有介绍
上世纪六十年代初开始将半导体材料作为激光媒质伯纳德(Bernard)和杜拉福格(Duraffourg)提出在半导体中实现受激辐射的必要条件:对应于非平衡电子空穴浓度的准费米能级差必须大于受激发射能量由此半导体激光器开始了从同质结到异质结的快速发展过程单异质结最初由美国的克罗默(Kroemer)和前苏联的阿尔费洛夫于1963年提出其实质是把一个窄带隙的半导体材料夹在两个宽带隙半导体之间从窄带隙半导体
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半导体的特性:光敏特性热敏特性掺杂特性杂质半导体分为N型半导体和P型半导体N型半导体的元素是4价硅P型半导体元素是3价硼N型半导体多子是电子P型半导体多子是空穴PN结的单向导电性:正向导通反向截止三极管按结构分可分为:PNPPNP型三极管由集电极c基极b发射极e组成三极管的工作区域:截止区(集电结反偏发射结反偏)放大区(发射结正偏集电结反偏)饱和区(集电结正偏发射结正偏)电压关系:NPN:UC>U
实验二 半导体元件输出特性分析本次实验的研究对象是半导体元件主要有二极管三极管双极结型晶体管场效应管主要的研究内容是二极管和三极管的输出特性分析以加深对各元件性质的理解第一部分 二极管输出特性分析绘制电路图如图1所示分析:(1)目的在于理解二极管的伏安特性曲线掌握反向击穿特性(2)所用的PSpice仿真分析方法是直流扫描分析(3)设定主扫描变量为V4从-120V开始扫描到30V每隔001记
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半导体的导电特性 P型半导体与N型半导体的特征 PN结及其单向导电特性重点内容1一半导体的导电特性价电子4空穴自由电子abc444444444 共价键的两个价电子 (a)硅和锗原子的简化结构模型 (b)晶体的共价键结构及电子空穴对的产生
一目测判别极性1. 用万用表指针式检测正反电阻相差不大为劣质管
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