单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级原子力显微镜 小组成员:张翔 张尧原子力显微镜的历史 原子力显微镜(AFM)也称扫描力显微镜是针对扫描隧道显微镜不能直接观测绝缘体表面形貌的问题在其基础上发展起来的又一种新型表面分析仪器
——魏凯的发展历史在原子力显微镜的系统中可分成三个部分:力检测部分位置检测部分反馈系统力检测部分:???????在原子力显微镜(AFM)的系统中所要检测的力是原子与原子之间的范德华力所以在本系统中是使用微小悬臂(cantilever)来检测原子之间力的变化量这微小悬臂有一定的规格例如:长度宽度弹性系数以及针尖的形状而这些规格的选择是依照样品的特性以及操作模式的不同而选择不同类型的探针位置检测部分:
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级原子力显微镜小组成员: 陈曦 90513108 刘聃 90513115 苏炳男 90513123 张志豹 90513118AFM的发明与发展显微镜的发展 光学显微镜 高级显微镜光学显微镜16世纪末荷兰的眼镜商Zaccharias Janssen 第一台复合式
SAXSRutherford backscattering RBS一 超薄层面及横向纳米结构分析Atom covalent:EELS扩展X射线IR and Raman 10ISSuRS1003.轻敲模式(tapping mode)该模式避免了针尖沾附样品以及在扫描过程中对样品的破坏.针尖在接触样品时有足够的振幅来克服针尖和样品间的粘附力.同时作用力是垂直的材料表面受横向摩擦力压缩力和剪切力影响较
引言:在当今的科学技术中如何观察测量分析尺寸小于可见光波长的物体是一个重要的研究方向1982年G. Binnig和H.Rohrer在IBM苏黎世实验室共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜(scanning tunnelling microscopeSTM)使人们首次能够真正实时地观察到单个原子在物体表面的排列方式和与表面电子行为有关的物理化学性质1986年Binnig和Rohrer被授予诺
1.儀器必須自行操作或請儀器負責人代為安排操 2.探頭或其他配件折損應由使用人賠償 3.導電探針原則上需自行準備 4.資料儲存磁片或其他影像輸出用之材料請使用者自備 5.使用者必須確保試片潔淨 原子力顯微的應用
24 实验五原子力显微镜AFM(Atomic Force Microscopy)实验目标了解AFM的工作原理及各个工作模式利用AFM测量样品表面形貌,并能对其进行初步分析二、实验原理1、基本原理AFM是SPM中应用领域最广泛的表面观察与研究工具之一,其利用的是针尖原子与样品原子之间的相互作用力。当一根十分尖锐的微探针在纵向充分逼近样品表面至数纳米甚至更小间距时,微探针尖端的原子和样品表面原子之间
原子力显微镜原子力显微镜(Atomic Force Microscope AFM)起源于扫描隧道显微镜技术属于扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope SPM)家族中的一种它广泛应用于生物物质结构分子生物学等领域在蛋白单分子结构与功能研究中得到广泛地应用[[]朱杰孙润广. 原子力显微镜在蛋白单分子结构与功能研究中的应用[J]. 分析化学 2006 34(5): 7
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