通过霍尔效应测量磁场在磁场中的载流导体上出现很想电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H Hall)在1879年发现的,现在称之为霍尔效应。随着半导体物理学的迅猛发展,霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半导体材
通过霍尔效应测量磁场在磁场中的载流导体上出现很想电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H Hall)在1879年发现的,现在称之为霍尔效应。随着半导体物理学的迅猛发展,霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半导体材料
通过霍尔效应测量磁场在磁场中的载流导体上出现很想电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H Hall)在1879年发现的,现在称之为霍尔效应。随着半导体物理学的迅猛发展,霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半导体材
通过霍尔效应测量磁场实验简介在磁场中的载流导体上出现横向电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H Hall)在1879年发现的,现在称之为霍尔效应。随着半导体物理学的迅猛发展,霍尔系数和电导率的测量已经成为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半
霍尔效应科技名词定义中文名称:霍尔效应 英文名称:Hall effect 定义1:在物质中任何一点产生的感应电场强度与电流密度和磁感应强度之矢量积成正比的现象 所属学科: t _blank 电力(一级学科) t _blank 通论(二级学科) 定义2:通过电流的半导体在垂直电流方向的磁场作用下在与电流和磁场垂直的方向上形成电荷积累和出现电势差的现象 所属学科: t _b
通过霍尔效应测量磁场在磁场中的载流导体上出现很想电势差的现象是24岁的研究生霍尔(Edwin H Hall)在1879年发现的,现在称之为霍尔效应。随着半导体物理学的迅猛发展,霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系,还可以求出半导体材
通过霍尔效应测量磁场实验目的:通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。实验原理:????????通过霍尔效应测量磁场霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),当沿y方向的电极A、A’上施加电流I时,薄片内定向移动的载流子(设平均速率为u)受到洛伦兹力
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级霍尔效应 霍尔效应: 实验目的实验原理操作方法霍尔效应霍尔效应:霍尔于1879年在研究金属的导电机构时发现的霍尔效应在磁场等物理量的测试自动化和信息技术等方面有着极其广泛的应用一实验目的1.了解产生霍尔效应的机理2.研究霍尔元件的特性了解应用霍尔效应测量磁场的方法 二测量原理1.霍尔效应 通有电流的导体或半导体薄片置于磁场中由
尝试网络系统,请按实验课交的打印版评分,有什么问题请老师直接在本报告上留言或修改,谢谢 实验报告19系 04级 王承乐 日期 051010 台号1号台 评分 实验题目:霍尔效应实验目的:通过用霍尔元件测量磁场,判断霍尔元件载流子类型,计算载流子的浓度和迁移速度,以及了解霍尔效应测试中的各种副效应及消除方法。实验原理: 霍尔效应装置如图231-1和图231-2所示。将一个半导体薄片放在垂直于
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