X射线荧光光谱法测定铁矿石中的全铁含量丁仕兵 曲晓霞 岳春雷(黄岛出入境检验检疫局 青岛266555)摘要: 用高纯度试剂人工合成校准样制备系列校准片铁矿试样经预氧化及灼烧后制备熔片用X射线荧光光谱仪直接测定以标准曲线法定量该方法具有较好的准确度和精密度用70个样品进行对比测试所测得的铁含量与湿化学法结果差值不大于用两个标准样品验证无显著性差异标准偏差分别为(铁矿标样W88307an=8
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单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱分析Outline概论基本原理X射线激发X射线探测X射线荧光光谱仪定量分析方法基体校正应用一概论X射线光谱分析的发展历程1895年发现X射线1910年获得特征X射线光谱建立X射线光谱学50年代出现商用X射线发射与荧光光谱仪60年代出现X射线能量色散X射线荧光光谱仪近代出现TXRF PXRF SRXRF PIXE
中国测试技术研究院广州分院始建于1936年重组于1950年其工作职能与业务范畴隶属国家质量监督检验检疫总局管辖经广东省质量技术监督局与广州市质量技术监督局批准授权广东省眼镜产品质量监督检验站广州市眼镜产品质量监督检验站广州市计量器具产品质量监督检验站也挂靠在中国测试技术研究院广州分院同时中国测试技术研究院广州分院亦为中国实验室国家认可委员会AS)认可授权的计量校准检测实验室其出具的校准检测报
Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X 射线荧光光谱分析Which elements are presentWhat are their concentrations第一章X射线荧光光谱基本原理X射线的发现应用 X射线简介X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射波段在10-3-10nm X射线光谱分为连续光谱和特征光谱???特征光谱的
样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级铁矿石中铁含量测定 目的与要求 仪器和试剂 基本操作 实验原理 实验内容数据记录和处理 注意事项 思考题 实验目的1掌握重铬酸钾标准溶液的配制及使用2学习矿石试样的酸溶法和重铬酸钾法测定铁的原理及方法3了解二苯胺磺酸钠指示剂的作用原理仪器和试剂 仪 器 酸式滴定管 小烧杯
中国仪器仪表学会分析仪器分会文件(2010)仪学分字第09号关于举办X射线荧光光谱分析技术及应用培训班的通 知各有关单位: X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质冶金采矿有色海洋生化环境石化商检电子公安考古难融化物和陶瓷工业RoHs和 WEEE分析等领域分析技术已从主次量微量元素分析扩展到痕量元素分析元素成分微区分布分析等新近发展到对大气尘埃的分析生化医药纳米材料和薄膜分析随着新分析仪器的
能量色散X射线荧光光谱仪校准方法1 范围??本规范适用于新生产使用中和修理后的能量色散X射线荧光光谱仪的校准2 引用文献??JJG 810-93 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程3 术语和计量单位 分辨力 检测器的分辨力以脉冲高度分布的半峰宽(eV)来表示简写为R信噪比信噪比以镉元素Kα线脉冲高度与噪声的比值(SN)来表示其中S是镉元素的X射线荧光强度N是背景值4 概述? ?能量色散X射线荧光光谱
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