薄膜热电参数测试系统(MRS)
薄膜太陽能電池系統專有名詞對照前言隨著人口膨脹以及科技的進步,二氧化碳大量的排放所產生之溫室效應已對地球生態環境造成極大的衝擊。溫室效產導致氣候異常,全球氣溫上升,以及部分地區的沙漠化,酸雨等,全球每年的經濟損失難以估算。在石化燃料的大量使用下,地球石油產量已快速減少,因此必需考慮潔淨、無污染的替代能源解決方式。替代能源之種類太陽能風能氫能燃料電池海洋能生質能全球太陽能市場概況太陽能安裝方式資料來
英国AQUILANKD70008000系列薄膜分析系统仪器简介:英国Aquila是世界领先的薄膜分析解决方案供应商其NKD系列薄膜分析系统是世界上第一台专为表征和分析薄膜涂层和基片而设计的光谱仪是合测量多层薄膜的光学性能n(折射指数)和k(消光系数)以及d(厚度)适合多种薄膜材料:介电聚合物半导体和金属主要应用在光学涂层?半导体加工?平板显示器?数据存储产品?建筑和高附加值玻璃?包装和装饰
[ 供应 ] 产品名称:薄膜铂热电阻芯片 发布日期:[06-03-24]型号:CRZ-2005厂商: 日本林电 产品介绍: CRZ 膜片铂热电阻芯片(日本)CRZ铂金薄膜铂热电阻芯片是一个划时代温度传感器发展的产物采用最先进高科技方法像激光喷镀显微照相和平版印刷光刻技术而电阻值则以数字修整方式作出微调因而能提供最精确的电阻值1: 技术性能描述 产品性能符合IEC751-1995和JIS1604有关
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艾动
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第六章 光学薄膜参数测量 光学薄膜参数测量包括介质膜折射率测量光学薄膜厚度测量光学薄膜透射比测量光学薄膜反射比测量光学薄膜吸收比测量光学薄膜散射比测量薄膜机械强度和应力测量等 我们介绍光学薄膜厚度测量光学薄膜透射比和反射比测量光学薄膜厚度测量 光学薄膜厚度测量有两种方法: ★双光束干涉法 ★多光束干涉法一双光束干涉法仪器:迈克尔逊干涉仪倾斜反射镜使被测样品和7′构成带楔形的空气
第27卷 第11期
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