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仪器名称:X射线能谱仪参考品牌:Bruker 参考型号:Quantax 200-10技术指标:1 应能与FEI Inspect F50型号扫描电子显微镜相匹配及相互控制2 电制冷硅漂移晶体探测器探测器有效检测面积不小于10mm23 可分析元素应能覆盖Be4Am95或超出此范围4 在10万计数下(Mn-Ka)能量分辨力优于123eV(验收实测)超轻元素能量分辨力:C-Ka优于46eVF优于54
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十、X射线能谱(X-ray Spectroscopy for Elemental Analysis)近代分析实验原理(Introduction of modern analytical methods)12XRDBragg’s law Diffraction patternCrystal structureX-ray Spectroscopycharacteristic X-rays wavel
样品制备与分析布拉格定律 莫塞莱定律(Moseleys law)是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律1913 年.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一能
第八章 X射线谱仪和电子探针Electron Probe Microanalyser (EPMA)在SEM里我们用特征X射线谱来分析材料微区的化学成分这种微区分析可小至几?m3每一种元素都有它自己的特征X射线根据特征X射线的波长和强度就能得出定性与定量的分析结果这是用X射线做成分分析的理论依据X射线谱的测量与分析有两种方法:能谱仪(EDS)波谱仪(WDS) 能谱:能量色散谱 (EDS)1原理1能量
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级X射线荧光光谱仪的结构和性能蓝美秀第一章 X射线荧光光谱仪的结构和性能可分为:同步辐射X射线荧光光谱质子X射线荧光光谱全反射X射线荧光光谱波长色散X射线荧光光谱能量色散X射线荧光光谱等 X射线荧光光谱的主要结构部分 :光源色散元件探测器谱仪控制数据处理 §1.1 激发源激发样品的光源主要包括:具有各种功率的X射
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Click to edit Master title styleClick to edit Master text stylesSecond levelThird levelX射线荧光光谱仪光谱分析1Presentation Outline 概要 1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W C)发现X射线1896年法国物理学家乔治(Georges S)发现X射线荧光
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