实验十 椭圆偏振仪实验课程名称开放物理实验实验项目实验 椭圆偏振仪实验 实验内容1测量反光板的布儒斯特角2用消光法通过椭圆偏振仪对透明薄膜厚度与折射率进行测量的基本原理和方法实验方式学生研究式独立实验为主教师启发式一对一指导为辅教学重点 测量原理和方法教学难点 将仪器将调整到最佳状态然后进行测量教学时数4学时授课对象二三年级本科生学时分配2学时 研究实验原理测量方法熟悉实验仪器2学时 进行实验
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某时刻右旋圆偏振光E随z的变化透过双折射晶片后o光和e光的相位差为xλ椭圆偏振光和圆偏振光 椭圆偏振光和圆偏振光 A出光轴方向 I不变I变 有消光C此两束光合成为一束椭圆偏振光通过P2 后相位差为:偏振光的干涉它代表振幅为A2e和A2o两相干线偏振光之间的相位差按同方向振幅的叠加得合振幅为偏振化方向偏振光的干涉 如晶片d不均匀则屏上出现彩色条纹
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验目的1了解椭偏仪测量薄膜参数的原理2初步掌握反射型椭偏仪的使用方法实验原理在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的通常,设介质层为n1、n2、n3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉,如图(1-1)介质n1 界面1薄膜n2界面2衬底n3Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验目的1了解椭偏仪测量薄膜参数的原理2初步掌握反射型椭偏仪的使用方法实验原理在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的通常,设介质层为n1、n2、n3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉,如图(1-1)介质n1 界面1薄膜n2界面2衬底n3Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量
1 圆偏振光和椭圆偏振光§17-17 椭圆偏振光和圆偏振光偏振光的干涉椭圆偏振光椭圆偏振光和圆偏振光11 椭圆偏振光和圆偏振光的获得方法透过双折射晶片后,o光和e光的相位差为o光和e光叠加后仍为线偏振光;o光和e光叠加后成为椭圆偏振光。椭圆偏振光和圆偏振光12波片(又称相位延迟片)波片是按一定要求切割(例如光轴平行于表面)的晶体薄片。 通过厚为d 的晶片,o、e光产生相位差: 椭圆偏振光和圆偏振光
实 验 报 告04级6系 王朝勇PB04210066 实验题目: 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率实验目的:1了解椭偏仪测量薄膜参数的原理。2初步掌握反射型椭偏仪的使用方法。实验原理:设介质层折射率分别为n1、n2、n3,φ1为入射角,在界面1和界面2处会产生反射光和折射光的多光束干涉。 用2表示相邻两分波的相位差,其中=,用r1p、r1s表示光线的p分量、s分量在界面1的反射系数,用r
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椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验目的1了解椭偏仪测量薄膜参数的原理2初步掌握反射型椭偏仪的使用方法实验原理在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后,光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的通常,设介质层为n1、n2、n3,φ1为入射角,那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉,如图(1-1)介质n1 界面1薄膜n2界面2衬底n3Eip和Eis 分别代表入射光波电矢量
单击此处编辑母版标题样式单击此处编辑母版文本样式第二级第三级第四级第五级§5.6 圆及椭圆偏振光的获得和检验利用波片的相位延迟作用使得从其中出射的两列振动相互垂直的光波之间有一定的相位差这两列光合成可使得出射光具有不同的偏振态合成光的偏振态取决于它们之间的相位差一自然光经过波晶片自然光可正交分解每一个分量都含有相位随机的多列波在晶体中分为相互正交的o光e光经过波片后每一个分量仍然是相位随机的多列波
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